[发明专利]一种PLC测试装置及方法

说明书

本发明公开了一种PLC测试装置及方法，包括框架及安装于框架的加热组件、组装测试组件；加热组件用于向测试的PLC提供热气流；组装测试组件包括底板、模块上平台、夹持装置及探针组件，夹持装置包括X轴夹持装置、Y轴夹持装置，探针组件包括输入探针组件、输出探针组件，输入探针组件包括可沿Y轴滑动的输入端长型探针、输入端短型探针，输入端长型探针、输入端短型探针还连接可沿X轴滑动的横移装置，输出探针组件包括可沿Y轴滑动的输出端长型探针、输出端短型探针。相对于现有技术，本发明自动化程度较高，不仅能够在对PLC进行老化后直接进行测试；而且本发明能对多种PLC进行老化和测试，降低多种PLC老化测试的设备成本。

技术领域

本发明涉及PLC测试技术领域，具体涉及一种PLC测试装置及方法。

背景技术

老化就是让电子元器件进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化，很多电子元器件产品由于器件和制造过程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。因此为了达到满意的合格率，几乎所有电子元器件产品在出厂前都要先藉由老化然后进行测试。PLC产品也不例外。

然而老化测试不可避免的会带来不少的成本问题，主要由以下几个问题：

1）老化时间成本。

2）老化和测试两个步骤的效率成本。

3）同类型不同型号产品的老化测试设备成本。

所以为了节省生产成本，克服以上测试效率及成本问题就成了重中之重。

发明内容

为解决现有技术中的不足，本发明提供一种PLC测试装置及方法，解决了现有技术中PLC测试成本高、效率低的技术问题。

为了实现上述目标，本发明采用如下技术方案：

一种PLC测试装置，包括框架及安装于框架的加热组件、组装测试组件；加热组件用于向测试的PLC提供热气流；

组装测试组件包括底板、模块上平台、夹持装置及探针组件，底板连接于框架，夹持装置包括X轴夹持装置、Y轴夹持装置，X轴夹持装置包括固定连接于模块上平台的端部定位块及连接于模块上平台的、可相对端部定位块滑动的夹紧压板，Y轴夹持装置包括固定连接于底板的固定侧挡边、可相对固定侧挡边滑动的活动侧挡边；

探针组件包括输入探针组件、输出探针组件，输入探针组件包括可沿Y轴滑动的输入端长型探针、输入端短型探针，输入端长型探针、输入端短型探针还连接可沿X轴滑动的横移装置，

输出探针组件包括可沿Y轴滑动的输出端长型探针、输出端短型探针。

优选，前述的一种PLC测试装置，加热组件包括加热板、散热片及散热风扇，散热片连接于加热板，散热风扇用于调节控制PLC老化的温度。

优选，前述的一种PLC测试装置，还包括自动门系统，自动门系统包括防护门、至少两根导杆、分别连接于导杆两端的自动门前固定板、自动门后固定板，防护门与自动门后固定板之间还设有用于驱动防护门沿着导杆滑动的笔形气缸，自动门前固定板、自动门后固定板连接于框架。

优选，前述的一种PLC测试装置，输入端长型探针还设有定位装置，当输入端长型探针连接PLC的输入口时，定位装置用于锁定横移装置。

优选，前述的一种PLC测试装置，组装测试组件还包括用于检测PLC是否存在的存在检测传感器。

优选，前述的一种PLC测试装置，还包括用于检测夹紧压板位置的多个夹紧检测传感器。

优选，前述的一种PLC测试装置，横移装置包括直线滑轨、可沿直线滑轨滑动的换位滑块，换位滑块连接换位气缸。