[发明专利]一种波位信息检测方法、波位信息检测装置和存储介质有效
申请号: | 201911046628.4 | 申请日: | 2019-10-30 |
公开(公告)号: | CN110703247B | 公开(公告)日: | 2021-10-12 |
发明(设计)人: | 岳海霞;吴亮;吕游 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90;G01S7/41 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 王军红;张颖玲 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 信息 检测 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种波位信息检测方法,其特征在于,所述方法应用于波位信息检测装置,所述方法包括:
获取第一SAR回波数据;
提取所述第一SAR回波数据中的第一辅助数据,并基于所述第一辅助数据包括的SAR工作参数,得到所述SAR工作参数对应的第一SAR数据成像历程;
基于设置的定标分析参数,对所述第一SAR数据成像历程中的SAR成像参数进行定标分析,得到所述第一SAR数据成像历程中所述定标分析参数对应的第一波位信息;
其中,所述获取第一SAR回波数据之前,所述方法还包括:
获取SAR工作状态下的第二波位信息;其中,所述第二波位信息包括近场测试装置按照抽测模式和抽测波位工作时所得到的波位信息;
获取SAR基于所述抽测模式和所述抽测波位工作时的第二SAR回波数据;
提取所述第二SAR回波数据中的第二辅助数据,并基于所述第一辅助数据包括的SAR工作参数,得到所述SAR工作参数对应的第二SAR数据成像历程;
基于所述定标分析参数,对所述第二SAR数据成像历程中的SAR成像参数进行定标分析,得到所述第二SAR数据成像历程中所述定标分析参数对应的第三波位信息;
确定所述第二波位信息和所述第三波位信息之间的误差值;
若所述误差值不属于预设的误差范围,对波位信息检测装置进行校准。
2.根据权利要求1所述的波位信息检测方法,其特征在于,所述基于设置的定标分析参数,对所述第一SAR数据成像历程中的SAR成像参数进行定标分析,得到所述第一SAR数据成像历程中所述定标分析参数对应的第一波位信息,包括:
获取所述第一SAR数据成像历程关联的定标状态;
基于所述定标状态和所述定标分析参数,对所述第一SAR数据成像历程中的SAR成像参数进行定标分析,得到所述第一SAR数据成像历程中所述定标分析参数对应的第一波位信息。
3.根据权利要求2所述的波位信息检测方法,其特征在于,所述基于所述定标状态和所述定标分析参数,对所述第一SAR数据成像历程中的SAR成像参数进行定标分析,得到所述第一SAR数据成像历程中所述定标分析参数对应的第一波位信息,包括:
若所述定标状态表征第一SAR数据成像历程包括TR发射定标状态,基于预设的发射定标标准和所述定标分析参数,对第一SAR数据成像历程中的SAR成像参数进行定标分析,得到所述第一SAR数据成像历程中所述定标分析参数对应的第一波位信息。
4.根据权利要求2所述的波位信息检测方法,其特征在于,所述基于所述定标状态和所述定标分析参数,对所述第一SAR数据成像历程中的SAR成像参数进行定标分析,得到所述第一SAR数据成像历程中所述定标分析参数对应的第一波位信息,包括:
若所述定标状态表征第一SAR数据成像历程包括TR接收定标状态,基于预设的接收定标标准和所述定标分析参数,对第一SAR数据成像历程中的SAR成像参数进行定标分析,得到所述第一SAR数据成像历程中所述定标分析参数对应的第一波位信息。
5.根据权利要求1所述的波位信息检测方法,其特征在于,所述基于设置的定标分析参数,对所述第一SAR数据成像历程中的SAR成像参数进行定标分析,得到所述第一SAR数据成像历程中所述定标分析参数对应的第一波位信息,包括:
基于所述第一SAR数据成像历程获取SAR成像参数;
基于所述SAR成像参数,确定SAR成像模式;
若所述SAR成像模式符合预设模式,基于所述定标分析参数,对所述第一SAR数据成像历程进行定标分析,得到所述第一SAR数据成像历程中所述定标分析参数对应的第一波位信息。
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