[发明专利]图像中物体的检测方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 201911048196.0 申请日: 2019-10-30
公开(公告)号: CN110751160B 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 杨铀;刘琼;李贝 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06V10/46 分类号: G06V10/46;G06V10/80;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 钭飒飒;刘芳
地址: 430070 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 图像 物体 检测 方法 装置 系统
【说明书】:

发明提供一种图像中物体的检测方法、装置及系统,该方法,包括:获取场景的焦点堆栈,所述焦点堆栈包括同一场景聚焦在不同深度平面上的聚焦切片,通过深度卷积神经网络对所述焦点堆栈进行多层次特征提取,得到所述焦点堆栈的L层特征;其中,L为大于1的自然数;通过卷积长短期机器模型对每一层特征进行融合处理,得到所述焦点堆栈的L层聚焦融合特征;对所述L层聚焦融合特征进行多层次特征融合处理,得到目标聚焦融合特征,对所述目标聚焦融合特征进行卷积处理,并通过激活函数对卷积处理后的特征进行激活,得到显著图像。以提高在复杂环境场景图像中检测物体的准确性和鲁棒性。

技术领域

本发明涉及计算机视觉图像技术领域,尤其涉及一种图像中物体的检测方法、装置及系统。

背景技术

随着科技的发展,图像处理正逐步渗透在日常生活的各个领域。光场相机不断的完善,可以通过图像传感器前的微透镜阵列获取光场数据,给图像显著性分析提供新方法。

目前显著性物体检测大都基于2D或3D数据,在图像中目标与背景复杂时,出现检测目标不完整等问题。

另外光场显著性检测模型都采用手工特征,基于焦点堆栈提取聚焦度,背景概率等线索,这些基于光场的显著度线索作为附加特征与全聚焦图像的RGB特征、深度图的深度特征融合,或者作为加权系数参与到传统特征的融合过程,仅简单将光场特征与传统特征融合造成手工特征鲁棒性不高,使得检测效果不佳。

发明内容

本发明提供一种图像中物体的检测方法、装置及系统,以提高在复杂环境场景图像中检测物体的准确性和鲁棒性。

第一方面,本发明实施例提供的一种图像中物体的检测方法,包括:

获取场景的焦点堆栈;所述焦点堆栈包括同一场景聚焦在不同深度平面上的聚焦切片,

通过深度卷积神经网络对所述焦点堆栈进行多层次特征提取,得到所述焦点堆栈的L层特征;其中,L为大于1的自然数;

通过卷积长短期机器模型对每一层特征进行融合处理,得到所述焦点堆栈的L层聚焦融合特征;

对所述L层聚焦融合特征进行多层次特征融合处理,得到目标聚焦融合特征;

对所述目标聚焦融合特征进行卷积处理,并通过激活函数对卷积处理后的特征进行激活,得到显著图像。

在一种可能的设计中,通过深度卷积神经网络对所述焦点堆栈进行多层次特征提取,得到所述焦点堆栈的L层特征,包括:

假设所述焦点堆栈中包括N张聚焦切片,分别记为I1,I2,...,IN;I1表示第1张聚焦切片,I2表示第2张聚焦切片,IN表示第N张聚焦切片;

通过深度卷积神经网络对每一张所述焦点切片进行多层次特征提取,得到所述焦点堆栈的L层特征,分别记为:

其中,F1为第1层特征,F11为第1层中第1张聚焦切片的特征,为第1层中第2张聚焦切片的特征,为第1层中第N张聚焦切片的特征;F2为第2层特征,F12为第2层中第1张聚焦切片的特征,为第2层中第N张聚焦切片的特征;FL为第L层特征,F1L为第L层中第1张聚焦切片的特征,为第L层中第2张聚焦切片的特征,为第L层中第N张聚焦切片的特征。

在一种可能的设计中,通过卷积长短期机器模型对每一层特征进行融合处理,得到所述焦点堆栈的L层聚焦融合特征,包括:

将所述卷积长短期机器模型的迭代次数设置为N;

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