[发明专利]CMOS图像传感器的校正方法、系统及图像处理设备

说明书

本发明提出一种CMOS图像传感器的校正方法、系统及图像处理设备，该方法包括以下步骤：在CMOS图像传感器上电后，获取初始环境温度；获取校正所需的图像，根据校正所需图像计算校正参数；获得环境温度变化值；判断环境温度变化值是否大于或等于预设环境温度变化值；如果是，则重新获取校正所需的图像，并重新计算校正参数，以得到修正后的校正参数；根据修正后的校正参数对CMOS图像传感器进行校正。本发明能够在设备工作过程中，根据环境温度变化情况对CMOS图像传感器的校正参数进行修正，提高校正参数的准确性和可靠性，从而提高CMOS图像传感器的温度适应性，进而使校正结果准确可靠，从而有效消除列噪声，提升图像质量。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，特别涉及一种CMOS图像传感器的校正方法、系统及图像处理设备。

背景技术

目前，CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体)图像传感器系统主流的处理结构是采用列共用处理电路，即每列像素共用一套信号处理电路，这种结构最明显的问题在于，列共用处理电路的失配引起的列噪声问题，称为列固定模式噪声。列固定模式噪声在未校正的CMOS图像传感器中可以明显观察到，在图像上表现为明暗不一的“竖线”。因此，在使用时，需要对CMOS图像传感器的每一列进行校正，以消除这些“竖线”，即消除列固定模式噪声。

目前针对CMOS图像传感器的列校正的相关技术，主要是在调试阶段获取校正参数，然后将校正参数存储在存储器内，在实际使用时，从存储器内部读取校正参数，再进行CMOS图像传感器的校正。

然而，上述提前获取并存储传感器校正参数的方法，在温度变化明显的场合是不适用的，因温度的变化会影响校正参数，导致校正结果不准确，影响图像的质量；另外，提前获取并存储校正参数的方法在设备使用一段时间后可能会出现校正参数变化的情况，也会导致校正结果不准确，影响图像的质量。

发明内容

本发明旨在至少解决上述技术问题之一。

为此，本发明的一个目的在于提出一种CMOS图像传感器的校正方法，该方法能够在设备工作过程中，根据环境温度变化情况对CMOS图像传感器的校正参数进行修正，提高校正参数的准确性和可靠性，从而提高CMOS图像传感器的温度适应性，进而使校正结果准确可靠，从而有效消除列噪声，提升图像质量。

为此，本发明的第二个目的在于提出一种CMOS图像传感器的校正系统。

为此，本发明的第三个目的在于提出一种图像处理设备。

为了实现上述目的，本发明第一方面的实施例提出了一种CMOS图像传感器的校正方法，包括以下步骤：在CMOS图像传感器上电后，获取初始环境温度；获取校正所需的图像，根据所述校正所需图像计算校正参数；实时检测环境温度，结合所述初始环境温度，得到环境温度变化值；判断所述环境温度变化值是否大于或等于预设环境温度变化值；如果是，则重新获取校正所需的图像，并重新计算校正参数，以得到修正后的校正参数；根据所述修正后的校正参数对所述CMOS图像传感器进行校正。

根据本发明实施例的CMOS图像传感器的校正方法，能够在设备工作过程中，根据环境温度变化情况对CMOS图像传感器的校正参数进行修正，提高校正参数的准确性和可靠性，从而提高CMOS图像传感器的温度适应性，进而使校正结果准确可靠，从而有效消除列噪声，提升图像质量。

另外，根据本发明上述实施例的CMOS图像传感器的校正方法还可以具有如下附加的技术特征：

在一些示例中，所述校正所需的图像包括亮度高于预设亮度时所述CMOS图像传感器输出的第一图像和亮度低于所述预设亮度时所述CMOS图像传感器输出的第二图像，所述根据所述校正所需的图像计算校正参数，包括：计算所述第一图像和第二图像每一列的像素平均值；计算所述第一图像和第二图像的像素平均值；根据所述第一图像和第二图像每一列的像素平均值、所述第一图像和第二图像的像素平均值计算得到所述校正参数。