[发明专利]一种电子设备的测试方法及装置

说明书

本申请提出了一种电子设备的测试方法及装置。本申请使用公共测试项库来储存公共测试项标签和公共测试项的对应关系，在执行精简测试脚本对电子设备进行测试时，测试设备基于公共测试项标签调用公共测试项库中的公共测试项，来完成对于电子设备的共有功能的测试。一方面，由于精简测试脚本中记录公共测试项标签、而非公共测试项，所以精简测试脚本中储存的数据更少，减轻了存储压力；另一方面，当电子设备的共有功能发生变更时，与现有的更新所有测试脚本中的公共测试项相比，由于本申请只需要修改公共测试项库中与该变更功能对应的公共测试项，所以可以大大提高变更公共测试项的效率。

技术领域

本申请涉及测试领域，尤其涉及一种电子设备的测试方法及装置。

背景技术

电子设备的测试是指测试设备使用串口、Telnet等方式连接待测试的电子设备，然后针对电子设备的待测试功能执行测试项，以根据电子设备返回的结果来判断电子设备的功能是否正常。目前测试人员常使用自动化测试的方法对电子设备进行测试。自动化测试中，测试设备获取预设的与待测试的电子设备对应的测试脚本，通过执行测试脚本中的测试项对该电子设备的待测试功能进行测试，以根据电子设备返回的结果来自动识别功能是否正常。

一般地，每种型号的电子设备都对应一个包含多个测试项的测试脚本，其中，每个测试项都用于测试该型号电子设备的一个功能。在现有技术中，测试脚本中一般包括该电子设备所有功能对应的测试项。

然而，不同型号的电子设备也会有共有的功能，这些共有功能对应的公共测试项也相同，这就带来了一定的缺陷。一方面，大量的测试脚本中包含有相同的公共测试项，导致测试脚本冗余数据多，造成存储压力大；另一方面，当电子设备的共有功能变更时，所有的测试脚本中的公共测试项都需要对应更新，大大降低了公共测试项的变更效率。

发明内容

针对上述技术问题，本申请提供了一种电子设备的测试方法及装置，可以有效减少测试脚本的数据量，提高测试脚本的更新效率。

根据本申请的第一方面，提供一种电子设备的测试方法，该方法包括：

读取与待测试的目标电子设备对应的精简测试脚本，所述精简测试脚本包括目标公共测试项标签和目标独立测试项；

在预设的公共测试项库中，查找与所述目标公共测试项标签所指示的目标公共测试项；

基于所述目标独立测试项与所述目标公共测试项测试所述目标电子设备；

其中，目标公共测试项用于测试所述目标电子设备与其他电子设备共有的功能；所述目标独立测试项用于测试所述目标电子设备独有的功能。

根据本申请的第二方面，提供一种电子设备的测试装置，该装置包括：

读取单元，用于读取与待测试的目标电子设备对应的精简测试脚本，所述精简测试脚本包括目标公共测试项标签和目标独立测试项；

查找单元，用于在预设的公共测试项库中，查找与所述目标公共测试项标签所指示的目标公共测试项；

测试单元，用于基于所述目标独立测试项与所述目标公共测试项测试所述目标电子设备；其中，目标公共测试项用于测试所述目标电子设备与其他电子设备共有的功能；所述目标独立测试项用于测试所述目标电子设备独有的功能。

根据本申请的第三方面，提供一种设备，该设备包括处理器和机器可读存储介质；

该机器可读存储介质存储有能够被所述处理器执行的机器可执行指令；

该处理器被所述机器可执行指令促使执行如上所述的方法。

根据本申请的第四方面，提供一种机器可读存储介质；

该机器可读存储介质存储有机器可执行指令，在被处理器调用和执行时，所述机器可执行指令促使所述处理器执行如上所述的方法。