[发明专利]介质透镜、透镜天线和电子设备

权利要求书

1.一种介质透镜，其特征在于，包括：

透镜层，包括相背设置的第一侧面和第二侧面，且所述第一侧面包括朝背离所述第二侧面的一侧凸起的第一曲面；

校准层，包括一体成型的连接部和校准部，所述连接部与所述第二侧面贴合设置，所述校准部朝向所述透镜层的一侧包括第二曲面，所述第二曲面包括至少一个朝所述透镜层一侧的凸面，所述校准层用于对所述透镜层提供的相位分布进行补偿；所述第二曲面还包括至少两个凹面，所述凸面和所述凹面依次交替平滑连接，且所述凸面位于两个所述凹面之间，其中，所述凸面朝所述透镜层一侧凸起，所述凹面朝所述透镜层一侧凹陷。

2.根据权利要求1所述的介质透镜，其特征在于，所述凸面的数量为多个，且多个所述凸面在所述第二曲面的延伸方向上的长度尺寸具有渐变规律。

3.根据权利要求2所述的介质透镜，其特征在于，多个所述凸面的所述长度尺寸在延伸方向上由所述第二曲面的中心位置向两侧对称减小。

4.根据权利要求1所述的介质透镜，其特征在于，所述凸面与所述第二侧面接触设置。

5.据权利要求1所述的介质透镜，其特征在于，所述第二侧面为平面、双曲面、抛物面或椭圆面，所述第一侧面为双曲面、抛物面或椭圆面。

6.根据权利要求1所述的介质透镜，其特征在于，还包括设置在所述透镜层与所述校准层之间的介质层，所述介质层的介电常数均小于所述校准层、透镜层的介电常数。

7.根据权利要求1～6任一项所述的介质透镜，其特征在于，所述校准层远离所述透镜层的一侧为平面。

8.一种透镜天线，其特征在于，包括：

馈源阵列，包括多个阵列设置的馈源单元；及

与所述馈源阵列间隔设置的至少一个如权利要求1-7任一项所述介质透镜。

9.根据权利要求8所述的透镜天线，其特征在于，所述介质透镜为一个，且所述馈源阵列的阵列中心与所述介质透镜的焦点均位于同一轴线上。

10.根据权利要求8所述的透镜天线，其特征在于，所述介质透镜为至少为三个且呈线性阵列，所述馈源单元与所述介质透镜一一对应设置；其中，至少一个所述馈源单元的相位中心与所述介质透镜的焦点位于同一中轴线上，至少两个所述馈源单元的相位中心与所述介质透镜的焦点所在中轴线具有相位偏移。

11.根据权利要求10所述的透镜天线，其特征在于，所述相位偏移的偏移量由所述线性阵列的阵列中线向阵列两侧对称减小。

12.根据权利要求8所述的透镜天线，其特征在于，还包括：

第一导电板；

第二导电板，与所述第一导电板平行设置；

其中，所述介质透镜和所述馈源阵列分别设置在所述第一导电板和所述第二导电板之间。

13.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求8-12所述的透镜天线。

14.根据权利要求13所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括：

检测模块，用于获取每个所述馈源单元处于工作状态时所述透镜天线的波束信号强度；

开关模块，与所述馈源阵列连接，用于选择导通与任一所述馈源单元的连接通路；

控制模块，分别与所述检测模块、所述开关模块连接，用于根据所述波束信号强度控制所述开关模块，使最强波束信号强度对应的所述馈源单元处于工作状态。