[发明专利]带质量校正的电感耦合等离子体质谱仪在审
| 申请号： | 201911060015.6 | 申请日： | 2019-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN111146071A | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 杉山尚树;A·利巴;M·L·克林斯克;G·D·伍兹 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/10 | 分类号： | H01J49/10;H01J49/26;H01J49/42 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 质量 校正 电感 耦合 等离子体 质谱仪 | ||
1.一种用于控制对通过电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)的离子束中的多原子离子的质量过滤的方法，所述方法包括：
确定表示具有靶同位素的多原子离子的精确质量的多原子离子质量数据；
基于所确定的多原子离子质量数据生成第一控制信号；以及
将所述第一控制信号输出到ICP-MS，以基于质量对通过所述ICP-MS到达离子检测器的所述离子束中的所述多原子离子进行过滤。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多原子离子质量数据包括具有所述靶同位素的所述多原子离子的精确质量。
3.根据权利要求1或2中任一项所述的方法，其进一步包括将质量数据存储在存储器中，包括存储所述多原子离子质量数据。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其中，所述确定包括访问存储在存储器中的所述多原子离子质量数据。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中，所述确定包括计算具有所述靶同位素的所述多原子离子的精确质量。
6.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中，所述确定包括进行表查找来确定具有所述靶同位素的所述多原子离子的精确质量。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其进一步包括将质量偏差校正数据存储在存储器中，其中，所述质量偏差校正数据基于靶同位素和池气体。
8.根据权利要求1-7中任一项所述的方法，其中，所述ICP-MS包括具有被控制用于过滤离子质量的第一质量分析器和第二质量分析器的三重四极ICP-MS，并且所述第一控制信号被输出到所述第二质量分析器以控制施加到所述第二质量分析器的一个或多个电压信号。
9.一种可配置用于在电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)中使用的元素分析器系统，包括：
用户接口，所述用户接口使得用户能够输入选择以用于分析多原子离子中包含的靶同位素；以及
一个或多个处理器，所述一个或多个处理器耦合到所述用户接口并被配置用于接收表示所述输入选择的数据，并且进一步被配置用于：
确定表示具有靶同位素的多原子离子的精确质量的多原子离子质量数据；
基于所确定的多原子离子质量数据生成第一控制信号；以及
发起将所述第一控制信号输出到ICP-MS，以基于质量对通过所述ICP-MS的所述离子束中的所述多原子离子进行过滤。
10.一种元素分析器系统，包括：
电感耦合等离子体质谱仪；
耦合到所述电感耦合等离子体质谱仪的工作站，其中，所述工作站包括：用户接口，所述用户接口使得用户能够输入选择以用于分析多原子离子中包含的靶元素同位素；以及
一个或多个处理器，所述一个或多个处理器耦合到所述用户接口并被配置用于接收表示所述输入选择的数据，并且进一步被配置用于：
确定所述靶元素同位素的第一精确质量(EM1)；
评估是否需要对所述多原子离子中包含的所述靶元素同位素的元素分析进行质量偏差校正；以及
当需要进行质量偏差校正时，根据与所述靶多原子离子相对应的质量数以及与反应池中的反应物相对应的质量偏差校正，确定所述目标元素同位素的第二精确质量(EM2)。
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