[发明专利]阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置有效

专利信息
申请号: 201911063446.8 申请日: 2019-10-31
公开(公告)号: CN110728937B 公开(公告)日: 2022-01-21
发明(设计)人: 李广耀;王东方;汪军;王海涛;王庆贺;倪柳松;黄先纯;胡洋;陈皖青;周超 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G09G3/3266
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 张筱宁
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 阵列 潜在 故障 激发 检测 方法 显示 面板 显示装置
【权利要求书】:

1.一种阵列基板潜在故障激发方法,所述阵列基板包括显示区和栅极驱动区域,所述显示区设置有扫描信号线;所述栅极驱动区域包括导电层和绝缘层,所述导电层和所述绝缘层形成栅极驱动电路,所述栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存单元,所述移位寄存单元包括输出控制端、至少一个信号输出端、第一检测点、第二检测点以及连接在所述第一检测点和所述第二检测点之间的子电路,所述子电路包括至少一个输出控制薄膜晶体,所述输出控制薄膜晶体的栅极与所述输出控制端电连接,所述输出控制薄膜晶体管的漏极与所述信号输出端连接,所述信号输出端与所述扫描信号线连接;

其特征在于,所述阵列基板的潜在故障激发方法包括:

在预设时长内,将所述第一检测点与所述第二检测点之间的压差设置为预定压差;

若所述子电路不存在潜在故障,则所述输出控制薄膜晶体管不导通以使所述信号输出端不向所述扫描信号线输出信号,从而使所述子电路不导通以防止所述预定压差损坏所述阵列基板;

若所述子电路存在潜在故障,则所述潜在故障在所述预定压差的作用下被激发为实际故障以实现对所述阵列基板的潜在故障的激发。

2.根据权利要求1所述的阵列基板潜在故障激发方法,其特征在于,所述潜在故障包括:所述绝缘层的潜在裂纹、所述导电层的潜在裂纹和/或位于所述导电层和所述绝缘层之间的颗粒物;

所述实际故障包括:所述绝缘层的潜在裂纹恶化所导致的所述子电路短路、所述导电层的潜在裂纹恶化所导致是所述子电路的断路、和/或位于所述导电层和所述绝缘层之间的颗粒物使得所述绝缘层开裂所导致的所述子电路短路。

3.根据权利要求2所述的阵列基板潜在故障激发方法,其特征在于,所述预定压差范围为10V~70V。

4.根据权利要求3所述的阵列基板潜在故障激发方法,其特征在于,所述预设时长为10S~30S。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的阵列基板潜在故障激发方法,其特征在于,所述移位寄存单元包括上拉节点、电源电压输入端以及连接在所述上拉节点和所述电源电压输入端之间的第一子电路,所述第一子电路包括至少一个第一薄膜晶体管和至少一个第一控制端,其中,所述第一控制端与所述第一薄膜晶体管的栅极电连接,所述第一薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述上拉节点和所述电源电压输入端电连接;

在预设时长内,将所述第一检测点与所述第二检测点之间的压差设置为预定压差,包括:

在第一预设时长内,将所述上拉节点与所述电源电压输入端之间的压差设置为第一预定压差;

在所述第一控制端输入悬空信号,以使所述第一薄膜晶体管处于断开状态,若所述第一子电路不存在潜在故障,则所述第一薄膜晶体管的断开使所述第一子电路不导通,若所述第一子电路存在潜在故障,则所述潜在故障在所述第一预定压差的作用下被激发为实际故障。

6.根据权利要求5所述的阵列基板潜在故障激发方法,其特征在于,所述移位寄存单元还包括与所述上拉节点电连接的上拉控制单元,所述上拉控制单元包括第一信号输入端和第一时钟信号输入端;

将所述上拉节点与所述电源电压输入端之间的压差设置为第一预定压差,包括:

在所述电源电压输入端输入第一电压信号,以使所述电源电压输入端处于第一电位;

在所述第一信号输入端输入第二电压信号,在所述第一时钟信号输入端输入第一时钟信号,以使所述上拉节点处于第二电位,其中,所述第二电位与所述第一电位的差值的绝对值为所述第一预定压差。

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