[发明专利]检测电路和集成电路

说明书

本发明涉及一种检测电路和集成电路，用于检测经过滤的第二电源端上的第一电容的漂移或开路，该第二电源端适于经第一电阻从未过滤的第一电源端获取电源电压，且适于经该第一电容耦接到参考电位端以过滤所述电源电压。该检测电路包括串联的第二电阻和第二电容，耦接在第一电源端和参考电位端之间，第二电阻和第二电容与第一电阻和第一电容具有相同的时间常数；仿电源端，连接在第二电阻和第二电容之间；以及比较器，耦接第二电源端和仿电源端，适于检测第二电源端的经过滤电源电压和仿电源端的仿电源电压的电压差，该电压差指示第一电容的漂移程度或开路。本发明可以对集成电路外接电容的漂移程度或开路进行检测，具有易于集成和低成本的优点。

技术领域

本发明涉及集成电路领域，尤其涉及一种用于检测集成电路外接电容状态的检测电路。

背景技术

图1是一种集成电路的结构示意图。参考图1所示，其中示出了一集成电路(IC,Integrated Circuit)芯片110的三个管脚，分别是接地管脚111、未经滤波的电源管脚113和经滤波的电源管脚112。在未经滤波的电源管脚113和经滤波的电源管脚112之间连接有一电阻R，该电阻R属于该集成电路芯片110的内部电路。在经滤波的电源管脚112和接地管脚111之间连接有一电容C，该电容C为一外接电容，不属于该集成电路芯片110。电阻R和电容C一方面可以组成滤波电路对未经滤波的电源管脚113的信号进行滤波，获得经滤波的电源管脚112的信号；另一方面，由于电容电压下降的比电源电压慢，因此电容C可以在电源管脚的电压降低时起到欠压(Brownout)保护的作用，即为电源电压提供一定的降压空间(Brownout Margin)。

在某些情况下，电容C与集成电路芯片110的管脚之间的连接会断开，或者当环境温度、湿度、电场等发生改变时电容C的参数会发生漂移。在这些情况下，经滤波的电源管脚112上的纹波(Ripple)会增加，从而对集成电路芯片110的性能产生影响。

在ISO 26262《道路车辆功能安全》国际标准中，通常要求车用集成电路具有诊断其管脚短路或开路的功能。为了测量车用集成电路芯片的电源管脚和外接电容之间的开路状态，可以在电源管脚上增加一个交流(AC,Alternating Current)电流负载并测量其交流纹波，但是这种方法需要相当高的电流，并且所产生的交流纹波对芯片的性能会造成不良的影响。因此，需要采用更加可靠、便捷的方法来测量芯片管脚和外接电容之间的开路状态以及外接电容的参数漂移状态。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种可以方便检测集成电路外接电容状态的检测电路和集成电路。

本发明为解决上述技术问题而采用的技术方案是一种检测电路，用于检测经过滤的第二电源端上的第一电容的漂移或开路，所述第二电源端适于经第一电阻从未过滤的第一电源端获取电源电压，且适于经所述第一电容耦接到参考电位端以过滤所述电源电压，所述检测电路包括：串联的第二电阻和第二电容，耦接在所述第一电源端和所述参考电位端之间，所述第二电阻和第二电容与所述第一电阻和第一电容具有相同的时间常数；仿电源端，连接在所述第二电阻和第二电容之间；以及比较器，耦接所述第二电源端和所述仿电源端，适于检测所述第二电源端的经过滤电源电压和所述仿电源端的仿电源电压的电压差，所述电压差指示所述第一电容的漂移程度或开路。

在本发明的一实施例中，所述检测电路还包括：分压电路，耦接在所述比较器与所述第二电源端之间以向所述比较器提供所述经过滤电源电压的分压；以及分压电阻，耦接在所述仿电源端与所述参考电位端之间，以使所述仿电源电压为所述第一电源端的未过滤电源电压的分压。

在本发明的一实施例中，所述第二电阻是可变电阻。

在本发明的一实施例中，所述第二电阻被预先调整到使所述第二电阻和第二电容与所述第一电阻和第一电容具有相同的时间常数。

在本发明的一实施例中，所述第二电容的电容值的数量级低于所述第一电容的电容值。