[发明专利]一种利用散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法及系统

权利要求书

1.一种利用散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法，其特征在于，包括步骤：

S1，分别获取光波照射到位于坐标原点O的颗粒样品上后产生的垂直偏振散射光能分布E_⊥＝[E_⊥1,E_⊥2,…,E_⊥k]^T和水平偏振散射光能分布E_||＝[E_||1,E_||2,…,E_||k]^T，计算散射光的偏振差E_d＝E_⊥-E_||＝[E_d1,E_d2,…,E_dk]^T；

S2，根据Mie理论，计算在颗粒的折射率n⁽ⁱ⁾下的维数为k×l的垂直偏振散射光能矩阵和散射光偏振差矩阵其中，k为探测光能的探测器单元的个数，l为颗粒的代表粒径的分段数，i为折射率取值编号；

S3,根据获得的Ε_⊥数值和垂直偏振的散射光能矩阵反演计算被测颗粒的粒度分布其中，表示假设折射率为n⁽ⁱ⁾时，反演计算得到的粒径处于第j个代表粒径段内的颗粒体积与颗粒总体积的比值；

S4，根据粒度分布W⁽ⁱ⁾和散射光偏振差矩阵获取散射光的偏振差分布

S5，根据散射光偏振差E_d和得到均方差

S6，将S2中的颗粒折射率变为n^(j)，重复步骤2-5，计算均方差σ^(j), 找到均方差最小时对应的折射率即为颗粒的真实折射率，该折射率对应的粒度分布即为真实的粒度分布。

2.如权利要求1所述的散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法，其特征在于，S2中散射光偏振差矩阵由垂直偏振散射光能矩阵和水平偏振散射光能矩阵之差获得，即

3.如权利要求1所述的散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法，其特征在于，所述S1中垂直偏振散射光能分布Ε_⊥和水平偏振散射光能分布Ε_||分别由成阵列式排布的激光探测器获得。