[发明专利]向存储器写入数据的方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种向存储器写入数据的方法，其特征在于，包括以下步骤：

确定存储器的工作状态，所述工作状态包括写0状态和写1状态；

读取存储器阵列中的第一数据和数据缓存区的第二数据；

根据所述工作状态、所述第一数据和所述第二数据，生成校验数据，并将所述校验数据存储在校验缓存区，其中，所述校验数据为至少一个，每个所述校验数据中包括多个第一标识数据，每个所述第一标识数据用于表征对应比特位的数据是否需要重写，所述校验数据在所述校验缓存区中的地址与所述第一数据在所述存储器阵列中的地址匹配；

根据所述校验数据中的多个所述第一标识数据，确定需要重写数据的目标比特位，并向所述目标比特位写入目标数据，其中，所述目标数据根据所述工作状态确定；

从所述存储器阵列读取第三数据，所述第三数据是写入目标数据后，所述存储器阵列中的数据；

根据所述第三数据、所述校验数据和所述工作状态对所述校验数据进行更新；

根据更新后的校验数据再次确定需要重写数据的目标比特位，并向所述目标比特位写入目标数据，直至确定无需要重写数据的比特位。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，每个所述校验数据中还包括一个第二标识数据，用于表征所述存储器阵列中，与所述第二标识数据对应的所述校验数据的地址相匹配的目标地址中是否存在需要重写的比特位；在所述确定无需要重写数据的比特位之后，还包括：

将所述第二标识数据更新为0。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述向所述目标比特位写入目标数据之前，还包括：

确定执行写操作的次数小于预设的最大写入次数。

4.如权利要求1-3任一所述的方法，其特征在于，所述读取存储器阵列中的第一数据和数据缓存区的第二数据，包括：

获取所述校验缓存区的地址数量；

从所述存储器阵列和所述数据缓存区分别读取相同所述地址数量的第一数据和第二数据。

5.一种向存储器写入数据的装置，其特征在于，包括：

状态确定模块，用于确定存储器的工作状态，所述工作状态包括写0状态和写1状态；

第一读取模块，用于读取存储器阵列中的第一数据和数据缓存区的第二数据；

生成模块，用于根据所述工作状态、所述第一数据和所述第二数据，生成校验数据，并将所述校验数据存储在校验缓存区，其中，所述校验数据为至少一个，每个所述校验数据中包括多个第一标识数据，每个所述第一标识数据用于表征对应比特位的数据是否需要重写，所述校验数据在所述校验缓存区中的地址与所述第一数据在所述存储器阵列中的地址匹配；

写入模块，用于根据所述校验数据中的多个所述第一标识数据，确定需要重写数据的目标比特位，并向所述目标比特位写入目标数据，其中，所述目标数据根据所述工作状态确定；

第二读取模块，用于从所述存储器阵列读取第三数据，所述第三数据是写入目标数据后，所述存储器阵列中的数据；

更新模块，用于根据所述第三数据、所述校验数据和所述工作状态对所述校验数据进行更新；

所述写入模块，还用于根据更新后的校验数据再次确定需要重写数据的目标比特位，并向所述目标比特位写入目标数据，直至确定无需要重写数据的比特位。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，每个所述校验数据中还包括一个第二标识数据，用于表征所述存储器阵列中，与所述第二标识数据对应的所述校验数据的地址相匹配的目标地址中是否存在需要重写的比特位；所述更新模块，还用于：

将所述第二标识数据更新为0。

7.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述写入模块，还用于：

确定执行写操作的次数小于预设的最大写入次数。

8.如权利要求5-7任一所述的装置，其特征在于，所述第一读取模块，具体用于：

获取所述校验缓存区的地址数量；

从所述存储器阵列和所述数据缓存区分别读取相同所述地址数量的第一数据和第二数据。

9.一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，当所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1-4任一项所述的向存储器写入数据的方法。