[发明专利]存储控制器以及测试数据产生方法

权利要求书

1.一种存储控制器，用于控制配置有可复写式非易失性存储器模块的存储装置，其特征在于，所述存储控制器包括：

连接接口电路，用以耦接至主机系统；

存储器接口控制电路，用以耦接至所述可复写式非易失性存储器模块；

测试数据电路单元；以及

处理器，耦接至所述连接接口电路、所述存储器接口控制电路及所述测试数据电路单元，

其中所述处理器用以根据对应测试数据的预定零壹比例与预定整数范围来指示所述测试数据电路单元执行测试数据产生操作，以产生测试数据，所述测试数据产生操作包括下列步骤：

(1)根据对应所述测试数据的所述预定零壹比例与所述预定整数范围来决定转换门槛值，其中所述转换门槛值为所述预定整数范围中的多个连续整数中的其中之一；

(2)产生在所述预定整数范围内的目标随机整数；

(3)判断所述目标随机整数是否大于所述转换门槛值；

其中反应于判定所述目标随机整数大于所述转换门槛值，将所述目标随机整数转换为1，并且将所述测试数据的第i个位设定为所述目标随机整数，其中i的初始值为1，并且所述测试数据共有N个位，其中N为正整数，

其中反应于判定所述目标随机整数不大于所述转换门槛值，将所述目标随机整数转换为0，并且将所述测试数据的第i个位设定为所述目标随机整数；以及

(4)判断i是否等于N，

其中反应于判定i不等于N，对i加上1，并且重新执行步骤(2)；

其中反应于判定i等于N，根据所述测试数据的所设定的N个位，将所述测试数据回应给所述处理器，以使所述测试数据经由所述处理器被写入至所述可复写式非易失性存储器模块。

2.根据权利要求1所述的存储控制器，其特征在于，所述预定整数范围中的所述多个连续整数为1至100。

3.根据权利要求2所述的存储控制器，其特征在于，所述预定零壹比例用以表示在期望的所产生的所述测试数值的所有位值中的多个位值0与多个位值1各自的总数目的比值。

4.根据权利要求3所述的存储控制器，其特征在于，所述转换门槛值等于所述多个连续整数的起始值加上第一数值的和，其中所述第一数值为第二数值减1，其中所述第二数值为所述多个连续整数的总数目乘以数值0的占比，其中所述数值0的占比是经由所述预定零壹比例所计算的。

5.一种测试数据产生方法，适用于产生被写入至存储装置的可复写式非易失性存储器模块的测试数据，其特征在于，所述方法包括下列步骤：

(1)根据对应所述测试数据的预定零壹比例与所述预定整数范围来决定转换门槛值，其中所述转换门槛值为所述预定整数范围中的多个连续整数中的其中之一；

(2)产生在所述预定整数范围内的目标随机整数；

(3)判断所述目标随机整数是否大于所述转换门槛值；

其中反应于判定所述目标随机整数大于所述转换门槛值，将所述目标随机整数转换为1，并且将所述测试数据的第i个位设定为所述目标随机整数，其中i的初始值为1，并且所述测试数据共有N个位，其中N为正整数，

其中反应于判定所述目标随机整数不大于所述转换门槛值，将所述目标随机整数转换为0，并且将所述测试数据的第i个位设定为所述目标随机整数；以及

(4)判断i是否等于N，

其中反应于判定i不等于N，对i加上1，并且重新执行步骤(2)；

其中反应于判定i等于N，根据所述测试数据的所设定的N个位，回应所述测试数据，以使所述测试数据被写入至所述可复写式非易失性存储器模块。

6.根据权利要求5所述的测试数据产生方法，其特征在于，所述预定整数范围中的所述多个连续整数为1至100。

7.根据权利要求6所述的测试数据产生方法，其特征在于，所述预定零壹比例用以表示在期望的所产生的所述测试数值的所有位值中的多个位值0与多个位值1各自的总数目的比值。

8.根据权利要求7所述的测试数据产生方法，其特征在于，所述转换门槛值等于所述多个连续整数的起始值加上第一数值的和，其中所述第一数值为第二数值减1，其中所述第二数值为所述多个连续整数的总数目乘以数值0的占比，其中所述数值0的占比是经由所述预定零壹比例所计算的。