[发明专利]附载体铜箔

权利要求书

1.一种附载体铜箔，其依序具备载体、剥离层、极薄铜层、及任意的树脂层，并且极薄铜层表面的Rt的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-2001进行测定而为2.0μm以下，且Rt的标准偏差为0.1μm以下。

2.根据权利要求1所述的附载体铜箔，其中，极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为1.5μm以下，且Rz的标准偏差为0.1μm以下。

3.根据权利要求1所述的附载体铜箔，其中，极薄铜层表面的Ra的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.2μm以下，且Ra的标准偏差为0.03μm以下。

4.根据权利要求2所述的附载体铜箔，其中，极薄铜层表面的Ra的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.2μm以下，且Ra的标准偏差为0.03μm以下。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的附载体铜箔，其中，极薄铜层表面的Rt的平均值为1.0μm以下。

6.一种附载体铜箔，其依序具备载体、剥离层、极薄铜层、及任意的树脂层，极薄铜层表面的Rt的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-2001进行测定而为2.0μm以下，且Rt的标准偏差为0.1μm以下，并且满足以下A)～L)中的一项、二项、三项、四项、五项、六项、七项、八项、九项、十项、十一项或十二项，

A)选自由以下的项目构成的群中的1项：

1:极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为1.5μm以下，

2:极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为1.4μm以下，

3:极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为1.3μm以下，

4:极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为1.2μm以下，

5:极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为1.0μm以下，

6:极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.8μm以下，

7:极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.5μm以下，

B)选自由以下的项目构成的群中的1项：

1:极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.01μm以上，

2:极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.1μm以上，

3:极薄铜层表面的Rz的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.3μm以上，

C)选自由以下的项目构成的群中的1项：

1:极薄铜层表面的Rz的标准偏差为0.1μm以下，

2:极薄铜层表面的Rz的标准偏差为0.068μm以下，

3:极薄铜层表面的Rz的标准偏差为0.05μm以下，

D):极薄铜层表面的Rz的标准偏差为0.01μm以上，

E)选自由以下的项目构成的群中的1项：

1:极薄铜层表面的Rt的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-2001进行测定而为1.8μm以下，

2:极薄铜层表面的Rt的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-2001进行测定而为1.5μm以下，

3:极薄铜层表面的Rt的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-2001进行测定而为1.3μm以下，

4:极薄铜层表面的Rt的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-2001进行测定而为1.1μm以下，

5:极薄铜层表面的Rt的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-2001进行测定而为1.0μm以下，

F)选自由以下的项目构成的群中的1项：

1:极薄铜层表面的Rt的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-2001进行测定而为0.5μm以上，

2:极薄铜层表面的Rt的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-2001进行测定而为0.6μm以上，

3:极薄铜层表面的Rt的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-2001进行测定而为0.8μm以上，

G)选自由以下的项目构成的群中的1项：

1:极薄铜层表面的Rt的标准偏差为0.060μm以下，

2:极薄铜层表面的Rt的标准偏差为0.05μm以下，

H):极薄铜层表面的Rt的标准偏差为0.01μm以上，I)选自由以下的项目构成的群中的1项：

1:极薄铜层表面的Ra的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.2μm以下，

2:极薄铜层表面的Ra的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.18μm以下，

3:极薄铜层表面的Ra的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.15μm以下，

J)选自由以下的项目构成的群中的1项：

1:极薄铜层表面的Ra的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.01μm以上，

2:极薄铜层表面的Ra的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.05μm以上，

3:极薄铜层表面的Ra的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.12μm以上，

4:极薄铜层表面的Ra的平均值是利用接触式粗糙度计依据JIS B0601-1982进行测定而为0.13μm以上，

K)选自由以下的项目构成的群中的1项：

1:极薄铜层表面的Ra的标准偏差为0.03μm以下，

2:极薄铜层表面的Ra的标准偏差为0.026μm以下，

3:极薄铜层表面的Ra的标准偏差为0.02μm以下，

L):极薄铜层表面的Ra的标准偏差为0.001μm以上。