[发明专利]一种光谱测量方法和装置在审
| 申请号： | 201911077770.5 | 申请日： | 2019-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN110686777A | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 董翊 | 申请（专利权）人： | 南京伯克利新材料科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 44368 深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 齐文剑 |
| 地址： | 210008 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 滤光片阵列 滤光片 光强 矩阵 透射光谱 透射 图像采集模块 阵列图像 光谱 预设 采集 光谱测量装置 数据处理模块 方法和装置 光谱分辨率 光栅 光谱测量 矩阵计算 需求调整 阵列排布 组合方式 传统的 入射光 狭缝 测量 灵活 | ||
1.一种光谱测量装置，其特征在于，包括：
滤光片阵列，由若干不同透射光谱的滤光片按预设阵列排布形成，所述滤光片用于透射待测光线；
图像采集模块，用于采集所述滤光片阵列上的每个滤光片的透射光强并得到光强阵列图像；
数据处理模块，根据所述光强阵列图像中的光强矩阵与预设所述滤光片阵列的透射光谱矩阵，计算得到所述待测光线的光谱。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述图像采集模块包括CCD图像传感器或COMS图像传感器。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述滤光片的数量等于所述待测光线的待测波长位置数量。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述滤光片阵列中相邻的所述滤光片之间相互物理阻隔。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述滤光片阵列包括带有网格的滤光片框架和多个所述滤光片，所述滤光片固定在所述网格，且所述滤光片之间采用不透光材料阻隔。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述滤光片的透射光谱相互之间不含有线性关系或线性叠加关系。
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述滤光片阵列与所述图像采集模块相对设置。
8.一种光谱测量方法，其特征在于，包括：
采集所述滤光片阵列上透射的光强阵列图像，所述滤光片阵列由若干不同透射光谱的滤光片按预设阵列排布形成；
根据所述光强阵列图像中的光强矩阵与预设所述滤光片阵列的透射光谱矩阵，计算得到所述待测光线的光谱。
9.电子设备，其特征在于，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求8所述的光谱测量方法的步骤。
10.计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求8中所述的光谱测量方法的步骤。
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