[发明专利]涂覆量的计测方法有效

专利信息
申请号: 201911079861.2 申请日: 2019-11-06
公开(公告)号: CN111174737B 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 蔵田洋志;小西俊介 申请(专利权)人: 本田技研工业株式会社
主分类号: G01B15/04 分类号: G01B15/04;G01B11/24;G01B21/20;G01B15/02;G01B11/06;G01B21/08;G01G17/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 孙尚昆
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 涂覆量 方法
【权利要求书】:

1.一种涂覆量的计测方法,其是对利用涂覆机涂布到被输送的片状基材的涂覆物的涂覆量进行计测的涂覆量的计测方法,其中,

该涂覆量的计测方法包括:

第一轮廓制作工序,在该工序中,在所述涂覆机的上游侧取得表示所述片状基材的凹凸形状的第一计测信息,制作在所述片状基材上设定出的计测范围的第一凹凸轮廓;

第二轮廓制作工序,在该工序中,在所述涂覆机的下游侧取得表示所述片状基材的凹凸形状的第二计测信息,制作所述计测范围的第二凹凸轮廓;以及

涂覆量算出工序,在该工序中,进行使所述第一凹凸轮廓的形状和所述第二凹凸轮廓的形状重合的匹配,并基于所述第一凹凸轮廓的形状和所述第二凹凸轮廓的形状进行了匹配时的位置关系,根据所述第一计测信息和所述第二计测信息之间的差量来算出涂覆量。

2.根据权利要求1所述的涂覆量的计测方法,其中,

所述第一凹凸轮廓及所述第二凹凸轮廓是所述片状基材的输送方向上的轮廓。

3.根据权利要求1或2所述的涂覆量的计测方法,其中,

所述第一凹凸轮廓及所述第二凹凸轮廓是与所述片状基材的输送方向正交的方向上的轮廓。

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