[发明专利]FPGA功能测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 201911081430.X 申请日: 2019-11-07
公开(公告)号: CN111090039A 公开(公告)日: 2020-05-01
发明(设计)人: 项宗杰;胡小海;楼建设;孔泽斌;徐导进 申请(专利权)人: 上海精密计量测试研究所
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 余岢
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: fpga 功能 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种FPGA功能测试装置,其特征在于,包括上位机和FPGA功能测试板;其中,上位机运行有上位机软件,用于配置FPGA,显示自测试结果;上位机上存储有用于FPGA功能测试的自测试程序;FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA,所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接,用于接收由上位机传送的自测试程序,并将自测试程序配置至待测FPGA上,开启测试,并将FPGA的测试结果回传至上位机软件。

2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述接口芯片为USB接口芯片,包括配置模块、启动测试模块、结果处理模块。

3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述配置模块用于将自测试程序配置到待测的FPGA;所述启动测试模块用于启动FPGA的测试。

4.如权利要求3所述的装置,其特征在于,所述结果处理模块包括完成单元和通过单元,所述完成单元用于判断测试是否完成,仅当完成单元输出测试完成的情况下,通过单元的输出结果方才有效。

5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述接口芯片包括传输模块与单片机,其中,传输模块用于接收上位机的自测试程序以及向上位机发送测试结果;所述单片机用于将自测试程序配置到待测的FPGA上,启动FPGA测试,将测试结果反馈至传输模块。

6.一种FPGA功能测试方法,其特征在于,包括步骤:

步骤1:上位机内存储至少一个自测试程序;

步骤2:用自测试程序对FPGA进行测试,并将测试结果反馈至上位机;

步骤3:重复步骤1和步骤2,直到所有自测试程序测试完毕。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述步骤2包括:

步骤21:上位机将自测试程序发送至接口芯片;

步骤22:接口芯片接收自测试程序并对待测的FPGA进行配置;

步骤23:接口芯片启动测试,并获取测试结果将其反馈至上位机。

8.如权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述测试结果包括测试是否完成和测试是否通过。

9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,若测试在规定时间内未完成,则接口芯片向上位机反馈的测试结果为测试不通过。

10.如权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述自测试程序为FPGA的配置文件,配置文件用于对FPGA的功能进行自测试。

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