[发明专利]一种电子元器件耐高温测试装置有效
| 申请号： | 201911081625.4 | 申请日： | 2019-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN110780137B | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 郑中光 | 申请（专利权）人： | 山东龙为检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 重庆创新专利商标代理有限公司 50125 | 代理人： | 李智祥 |
| 地址： | 276000 山东省临沂市*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 耐高温 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种电子元器件耐高温测试装置，包括检测筒(1)，其特征在于，所述检测筒(1)的内壁上开设有两个沿检测筒(1)中心对称的弧形槽(2)，且所述弧形槽(2)与检测筒(1)的轴心不重合，每个所述弧形槽(2)的内壁上均固定连接有弧形导向条(4)，且所述弧形导向条(4)与弧形槽(2)的轴心重合，每个所述弧形导向条(4)的侧壁均固定连接有导电柱(5)，且所述导电柱(5)滑动连接在弧形槽(2)内，两个所述导电柱(5)分别与外界电源正、负极电性连接；
所述检测筒(1)的内壁上嵌设有两个沿检测筒(1)中心对称设置的永磁铁(6)，且两个所述永磁铁(6)的异性磁极相对，两个所述永磁铁(6)均由耐高温的铁铬钴材料制成。
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