[发明专利]一种图像传感器测试治具及测试方法有效
申请号: | 201911081769.X | 申请日: | 2019-11-07 |
公开(公告)号: | CN110769247B | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 白丽莎;张悦强;叶红波;温建新 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;G03B43/00 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吴世华;张磊 |
地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像传感器 测试 方法 | ||
1.一种图像传感器测试治具,其特征在于,所述治具内部包含圆柱形准直光纤的阵列,所述准直光纤的直径小于图像传感器像素的边长,所述准直光纤阵列中的每个所述准直光纤用于与所述图像传感器中的一个像素对应,其中,
所述准直光纤的两端分别与所述治具相对的两个平行表面相平齐,所述治具的一个平行表面与图像传感器相贴合,另一个平行表面与光源面相贴合。
2.根据权利要求1所述的图像传感器测试治具,其特征在于,所述准直光纤阵列的排列形式包括点阵式,间隔行点阵式,间隔列点阵式,行或列由密到疏的点阵式,具有斜边的点阵式,或者呈中心密边缘疏的放射状点阵式。
3.根据权利要求1所述的图像传感器测试治具,其特征在于,所述准直光纤阵列的空隙中填充有不透光材料层。
4.根据权利要求1所述的图像传感器测试治具,其特征在于,所述治具的外侧覆盖有不透光材料层。
5.根据权利要求1所述的图像传感器测试治具,其特征在于,所述准直光纤的外侧表面上设有全反射镜面层。
6.根据权利要求5所述的图像传感器测试治具,其特征在于,所述全反射镜面层采用折射率低于所述准直光纤的玻璃封套。
7.一种图像传感器测试方法,使用权利要求1-6任一所述的图像传感器测试治具,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一:将图像传感器贴附在治具的一个面上,使所述准直光纤阵列中的每个所述准直光纤的一端与所述图像传感器中位置对应的一个像素对准贴合;
步骤二:将带有所述图像传感器的所述治具相对的另一个面贴附在光源上,使所述准直光纤阵列中的每个所述准直光纤的另一端与所述光源的表面相贴合;
步骤三:进行所述准直光纤与所述像素之间的对准检查,并通过所述图像传感器采集数字图像;
步骤四:通过对应的数字图像处理算法,对所述数字图像进行处理,得到针对所述图像传感器空间分辨率的判定或MTF曲线。
8.根据权利要求7所述的图像传感器测试方法,其特征在于,所述光源为均匀光源,或为包含均光片的普通光源。
9.根据权利要求7所述的图像传感器测试方法,其特征在于,步骤三中,所述对准检查采用图像传感器开窗功能或区域扫描进行。
10.根据权利要求7所述的图像传感器测试方法,其特征在于,步骤四中,根据所述准直光纤排列的形式,采取不同的图像处理算法,获得所述图像传感器的空间频率响应。
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