[发明专利]基于激光诱导击穿光谱技术的水体中元素分析的制样方法在审
申请号: | 201911085297.5 | 申请日: | 2019-11-08 |
公开(公告)号: | CN110887710A | 公开(公告)日: | 2020-03-17 |
发明(设计)人: | 郭连波;马世祥;马浴阳;张思屿;胡桢麟;陈锋;张登;陆永枫;曾晓雁 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N21/71 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 许恒恒;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 激光 诱导 击穿 光谱 技术 水体 元素 分析 方法 | ||
1.一种基于激光诱导击穿光谱技术的水体中元素分析的制样方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)参考待检测的化学元素,选择不含待测元素、且不吸收水体的基板;保持该基板表面洁净且无杂质残留,基板的上表面维持水平;
(2)同样参考待检测的化学元素,选择不含待测元素、且不吸收水体的胶带,将胶带用打孔器打孔,每个孔的大小相同,得到带孔胶带;对于带孔胶带上的任意一个孔,孔的大小小于胶带最小宽度,同时孔的面积小于基板上表面的表面面积;
(3)将所述步骤(2)得到的带孔胶带粘贴于所述步骤(1)得到的基板的上表面,然后按压带孔胶带的胶带部分使其与基板表面完全黏合,并且,带孔胶带中孔的边缘区域与基板表面无缝隙,从而得到带孔胶带约束的基板;
(4)针对所述步骤(3)得到的带孔胶带约束的基板,将待测水体滴加至该基板上由若干个胶带孔所暴露的表面区域,使水体被限制在与若干个胶带孔相对应的基板表面区域,且同时完全覆盖整个孔;然后,对所述基板进行加热处理,使水分蒸发;加热处理结束后,即可在基板表面若干个孔暴露区域形成大小一致、分布均匀的由待测水体得到的干燥层试样,从而完成制样;得到的试样即可用于基于激光诱导击穿光谱技术对待测水体中元素的分析。
2.如权利要求1所述基于激光诱导击穿光谱技术的水体中元素分析的制样方法,其特征在于,所述步骤(4)中,所述加热处理是在50~70℃的温度下进行的。
3.如权利要求1所述基于激光诱导击穿光谱技术的水体中元素分析的制样方法,其特征在于,所述待检测的化学元素排除碳元素、氯元素及氢元素,所述步骤(2)中的所述胶带选择PVC胶带。
4.如权利要求1所述基于激光诱导击穿光谱技术的水体中元素分析的制样方法,其特征在于,所述步骤(2)中,所述胶带的厚度不小于0.6mm。
5.如权利要求1所述基于激光诱导击穿光谱技术的水体中元素分析的制样方法,其特征在于,所述步骤(1)中,当待检测的化学元素为铬、镉或铅元素时,所述基板选择锌基板;
当待检测的化学元素为锌或铜元素时,所述基板选择硅基板。
6.如权利要求1-5任意一项所述基于激光诱导击穿光谱技术的水体中元素分析的制样方法,其特征在于,所述步骤(1)中,所述保持该基板表面洁净且无杂质残留,具体是将基板用工业酒精清洗至少3次,从而使基板表面洁净且无杂质残留。
7.如权利要求1-6任意一项所述基于激光诱导击穿光谱技术的水体中元素分析的制样方法,其特征在于,所述步骤(2)中,所述孔为圆形孔。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911085297.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种自动调节空调管路开度控制装置
- 下一篇:一种切片成品的计数收集机