[发明专利]用于处理图像的方法

权利要求书

1.一种用于处理原始图像的方法，该原始图像由与成像器(1)的有源热辐射计B_pix_(i,j)相关联的原始测量S_p(i,j)表征，所述有源热辐射计以n行(L_i)和m列(C_j)的矩阵阵列布置，成像器(1)处于环境温度T_amb下并且还包括盲热辐射计B_b_(k)，每个盲热辐射计B_b_(k)用于特定于所述盲热辐射计的至少一列热辐射计的有源热辐射计B_pix_(i,j)的差动测量，每个盲热辐射计B_b_(k)有利地与单列(C_j)有源热辐射计B_pix_(i,j)相关联，所述方法由配备有存储器的计算机(4)执行，所述方法包括以下步骤：

a)根据参考温度T_r下有源热辐射计和盲热辐射计各自的电阻R_Tr(i,j)和R_Tr(k)分别计算它们在温度T_amb下的电阻R_Tamb(i,j)和R_Tamb(k)的步骤，所述电阻存储在存储器中；

b)根据步骤a)中计算的电阻和根据原始测量S_p(i,j)确定由每个有源热辐射计B_pix_(i,j)实际测量的温度T_sc(i,j)的步骤。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，在温度T_amb下计算电阻R_Tamb(i,j)和R_Tamb(k)的步骤a)是基于激活能E_a来执行的，所述激活能E_a表示形成有源热辐射计B_pix_(i,j)和盲热辐射计B_b_(k)中的每一个的材料。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述电阻R_Tamb(i,j)和R_Tamb(k)使用以下关系计算：

和

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，由有源热辐射计B_pix_(i,j)实际测量的温度T_sc(i,j)遵循以下关系：

其中：

-Resp(T_amb,i,j)是热辐射计的响应度；

-S_0,Tamb(i,j)是实际测量温度等于环境温度时由有源热辐射计B_pix_(i,j)输出的值。

5.根据权利要求4的方法，其中，在实际测量温度等于环境温度时，与列(C_j)的有源热辐射计B_pix_(i,j)相关联的值S_0,Tamb(i,j)取决于分别能够流经所述有源热辐射计B_pix_(i,j)的电流I_0,pix(i,j)和能够流经与列(C_j)相关联的盲热辐射计B_b_(k)的电流I_0,b(j)之间的差。

6.根据权利要求1至5中的一项所述的方法，步骤a)之前是步骤a1)，所述步骤a1)利用电容跨阻抗放大器(CTIA)获取原始测量Sp(i,j)，所述电容跨阻抗放大器(CTIA)被布置成使得每个列(C_j)的所有有源热辐射计B_pix_(i,j)和与所述列(C_j)相关联的盲热辐射计B_b_(k)连接到电容跨阻抗放大器(CTIA)之一的负输入端(E^-)，所述放大器(CTIA)的正输入端(E⁺)接收参考电压(V_bus)。