[发明专利]一种自动电路板功能测试装置及方法在审
申请号: | 201911086342.9 | 申请日: | 2019-11-08 |
公开(公告)号: | CN110687436A | 公开(公告)日: | 2020-01-14 |
发明(设计)人: | 黄维权 | 申请(专利权)人: | 深圳市诺威达电汽有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 44276 深圳市远航专利商标事务所(普通合伙) | 代理人: | 田志远;张朝阳 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测试按键 供电输入电路 串口电路 控制电路 测试架 供电控制电路 电路板功能 自动测试板 测试装置 供电电源 单片机 电脑端 测试 有效减少 整体测试 不良率 | ||
本发明公开了一种自动电路板功能测试装置及方法,该自动电路板功能测试装置包括测试架、供电电源及电脑端,其特征在于,所述测试架内设置有自动测试板,所述自动测试板包括单片机、串口电路、测试按键控制电路、供电输入电路、供电控制电路,所述单片机分别与所述串口电路、所述测试按键控制电路、所述供电输入电路及所述供电控制电路连接,所述供电输入电路与所述供电电源连接,所述串口电路与所述电脑端连接;所述测试按键控制电路用于控制所述测试架上测试按键的开启与关闭。本发明能够有效减少人员投入,提高测试速度及降低测试不良率,降低整体测试成本。
技术领域
本发明涉及电路板测试领域,具体的说,是涉及一种自动电路板功能测试装置及方法。
背景技术
目前,在电路板生产出来后,需要对电路板进行功能测试,部分测试需要将待测电路板放到一个测试夹具上,然后通过USB/串口等接口连接电脑,在电脑端安装测试软件,通过看电脑端的测试软件指示测试哪种功能,然后测试人员在测试夹具上通过按对应的开关/按键,电路板接收到这些动作后反馈给电脑端,电脑端判断电路板传回的数据是否正确来判断电路板的功能是否正常。
整个过程需要人工一直观察电脑端工具,同时需要手动按测试夹具上的按键,测试效率低下,出错率高。
发明内容
为了克服现有的技术的不足,本发明提供一种自动电路板功能测试装置及方法。
本发明技术方案如下所述:
一种自动电路板功能测试装置,包括测试架、供电电源及电脑端,其特征在于,
所述测试架内设置有自动测试板,所述自动测试板包括单片机、串口电路、测试按键控制电路、供电输入电路、供电控制电路,所述单片机分别与所述串口电路、所述测试按键控制电路、所述供电输入电路及所述供电控制电路连接,所述供电输入电路与所述供电电源连接,所述串口电路与所述电脑端连接;
所述测试按键控制电路用于控制所述测试架上测试按键的开启与关闭。
根据上述的本发明,其特征在于,所述测试按键控制电路包括第一测试按键控制电路、第二测试按键控制电路及第三测试按键控制电路,所述单片机分别与所述第一测试按键控制电路、所述第二测试按键控制电路及所述第三测试按键控制电路连接。
进一步的,其特征在于,所述第一测试按键控制电路为打火信号测试按键控制电路,所述第二测试按键控制电路为高温测试按键控制电路,所述第三测试按键控制电路为低温测试按键控制电路;
所述打火信号测试按键控制电路用于控制所述测试架上打火信号测试按键的开启与关闭,所述高温测试按键控制电路用于控制所述测试架上高温测试按键的开启与关闭,所述低温测试按键控制电路用于控制所述测试架上低温测试按键控制电路的开启与关闭。
根据上述的本发明,其特征在于,所述自动测试板更包括开机按键控制电路,所述开机按键控制电路与所述单片机连接;
所述开机按键控制电路用于控制所述测试架上开机按键的开启与关闭。
根据上述的本发明,其特征在于,所述自动测试板更包括马达控制电路,所述马达控制电路与所述单片机连接;
所述马达控制电路用于控制所述测试架上振动马达的开启与关闭。
根据上述的本发明,其特征在于,所述自动测试板更包括复位按键控制电路,所述复位按键控制电路与所述单片机连接;
所述复位按键控制电路用于控制所述测试架上复位按键的开启与关闭。
根据上述的本发明,其特征在于,所述单片机的型号为STM32F030C8。
根据上述的本发明,其特征在于,所述串口电路为UART转USB串口电路。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市诺威达电汽有限公司,未经深圳市诺威达电汽有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911086342.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种自动电测机匹配的电测治具
- 下一篇:一种扫描测试压缩的优化方法