[发明专利]多桥路隧道磁阻双轴加速度计有效
申请号: | 201911088785.1 | 申请日: | 2019-11-08 |
公开(公告)号: | CN110780088B | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 张瑞;李孟委;宫美梅;金丽;辛晨光 | 申请(专利权)人: | 中北大学 |
主分类号: | G01P15/08 | 分类号: | G01P15/08;G01P15/105 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 申绍中 |
地址: | 030051 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多桥路 隧道 磁阻 加速度计 | ||
1.多桥路隧道磁阻双轴加速度计,其特征在于,包括固定连接的支撑框架一和支撑框架二;
支撑框架一上设置X轴质量块和Y轴质量块;Y轴质量块通过若干个具有弹性形变能力的Y轴检测梁与支撑框架一连接;X轴质量块通过若干个具有弹性形变能力的X轴检测梁与Y轴质量块连接;
X轴质量块上固定设置相互正交的X轴回折线圈和Y轴回折线圈;X轴回折线圈的两端以及Y轴回折线圈的两端分别通过导线与支撑框架一上的相应电极连接;
支撑框架二上固定设置X轴隧道磁阻元件和Y轴隧道磁阻元件;X轴隧道磁阻元件位于X轴回折线圈的正上方;Y轴隧道磁阻元件位于Y轴回折线圈的正上方;
X轴隧道磁阻元件的内部多桥路结构包括检测点A、B以及磁阻R1、R2、R3、R4;R1、R3为正相关磁阻结;R2、R4为负相关磁阻结;
Y轴隧道磁阻元件的内部多桥路结构包括检测点C、D以及磁阻R5、R6、R7、R8;R5、R6为正相关磁阻结;R7、R8为负相关磁阻结;
支撑框架一和Y轴质量块均为框架结构;Y轴质量块位于支撑框架一内;X轴质量块位于Y轴质量块内。
2.根据权利要求1所述的多桥路隧道磁阻双轴加速度计,其特征在于,串联连接的R1、R2与串联连接的R3、R4并联连接,检测点A位于R1、R2之间,检测点B位于R3、R4之间;串联连接的R5、R6与串联连接的R7、R8并联连接,检测点C位于R5、R6之间,检测点D位于R7、R8之间。
3.根据权利要求1所述的多桥路隧道磁阻双轴加速度计,其特征在于,所述X轴检测梁和所述Y轴检测梁均为直梁或至少一层弯曲折叠的细长梁。
4.根据权利要求1所述的多桥路隧道磁阻双轴加速度计,其特征在于,支撑框架二上固定设置支撑梁一和支撑梁二;支撑梁一连接支撑框架二和放置X轴隧道磁阻元件的基板一,支撑梁二连接支撑框架二和放置Y轴隧道磁阻元件的基板二。
5.根据权利要求1所述的多桥路隧道磁阻双轴加速度计,其特征在于,X轴回折线圈和Y轴回折线圈位于支撑框架一与支撑框架二之间。
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