[发明专利]Dubal BIOS的测试方法、测试装置及测试系统在审
| 申请号： | 201911089854.0 | 申请日： | 2019-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN110825640A | 公开（公告）日： | 2020-02-21 |
| 发明（设计）人： | 张斌 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 史翠 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | dubal bios 测试 方法 装置 系统 | ||
1.一种Dubal BIOS的测试方法，其特征在于，包括：
对主BIOS进行测试后，对所述主BIOS对应的信号链路进行注错；
判断设备系统是否切换至副BIOS；
如果是，则对所述副BIOS进行测试。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述对所述主BIOS对应的信号链路进行注错，具体为：
应用注错仪对所述主BIOS对应的信号链路进行有源注错。
3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述注错仪具体为小型功率发生仪。
4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述对所述主BIOS对应的信号链路进行注错，具体为：
将所述主BIOS对应的信号链路短接到地。
5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述判断设备系统是否切换至副BIOS，具体为：
判断所述设备系统是否触发重启；
如果是，则所述设备系统已切换至所述副BIOS；
如果否，则所述设备系统未切换至所述副BIOS。
6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述对主BIOS进行测试，具体包括：
判断所述设备系统是否能通过所述主BIOS正常开机；
如果能通过所述主BIOS正常开机，则所述主BIOS测试通过；
如果不能通过所述主BIOS正常开机，则所述主BIOS测试不通过；
相应的，所述对所述副BIOS进行测试，具体为：
判断所述设备系统是否能通过所述副BIOS正常开机；
如果能通过所述副BIOS正常开机，则所述副BIOS测试通过；
如果不能通过所述副BIOS正常开机，则所述副BIOS测试不通过。
7.一种Dubal BIOS的测试装置，其特征在于，包括：
测试单元，用于对所述主BIOS和/或所述副BIOS进行测试；
注错单元，用于对在所述测试单元对所述主BIOS进行测试后，对所述主BIOS对应的信号链路进行注错；
判断单元，用于判断设备系统是否切换至副BIOS；如果是，则通知所述测试单元对所述副BIOS进行测试。
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任意一项所述Dubal BIOS的测试方法的步骤。
9.一种Dubal BIOS的测试系统，其特征在于，包括：设于主BIOS对应的信号链路的连接器，与所述连接器连接的用于传输注错信号的测试治具，以及与所述测试治具连接的注错仪。
10.根据权利要求9所述的测试系统，其特征在于，所述注错仪具体为小型功率发生仪。
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