[发明专利]Sn-Zn-Ag焊料薄膜及其制备方法在审
申请号: | 201911093759.8 | 申请日: | 2019-11-07 |
公开(公告)号: | CN110699656A | 公开(公告)日: | 2020-01-17 |
发明(设计)人: | 李才巨;李芳;贾延东;王刚;马昕迪;耿川;易军;黄波 | 申请(专利权)人: | 昆明理工大学;上海大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/18;C22C13/00 |
代理公司: | 11541 北京卓唐知识产权代理有限公司 | 代理人: | 唐海力 |
地址: | 650093 云南*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 焊料薄膜 焊料 制备 沉积 磁控共溅射 一次性完成 成分梯度 底部基材 镀膜过程 合金元素 溅射功率 原子尺度 制备工艺 一次性 靶材 掩膜 耗时 合金 费力 筛选 优化 | ||
1.一种Sn-Zn-Ag焊料薄膜,其特征在于,所述焊料薄膜包含合金元素Sn、Zn、Ag;
其中,Sn的含量为65-95wt%,Zn的含量为4-11wt%,Ag的含量为0.05-27wt%。
2.根据权利要求1所述的Sn-Zn-Ag焊料薄膜,其特征在于,所述焊料薄膜中Sn的含量为80-95wt%,Zn的含量为8-10wt%,Ag的含量为0.1-8wt%。
3.根据权利要求1所述的Sn-Zn-Ag焊料薄膜,其特征在于,其厚度为1~5μm。
4.权利1至3任何一项所述的Sn-Zn-Ag焊料薄膜的制备方法,其特征在于,采用磁控共溅射方法,通过调节溅射功率和靶材间的相对角度,在底部基材上一次性完成不同组分焊料的分布沉积,制备出具有成分梯度分布的焊料薄膜。
5.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,所用靶材为Sn-Zn合金靶材和高纯Ag靶材,优选地,所述基材包括玻璃片和硅片中的至少一种。
6.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,所述Sn-Zn合金靶材的相对角度的变化范围为55-80°,所述高纯Ag靶材的相对角度的变化范围为60-85°。
7.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,所述Sn-Zn合金靶材的相对角度的变化范围为65-75°,高纯Ag靶材的相对角度的变化范围为70-80°。
8.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,所述Sn-Zn合金靶材的溅射功率变化范围为50-90W,高纯Ag靶材的溅射功率变化范围为5-40W。
9.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,所述Sn-Zn合金靶材的溅射功率变化范围为65-80W,高纯Ag靶材的溅射功率变化范围为5-25W。
10.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,沉积时间的变化范围为40-120min,优选地,沉积时间的变化范围为50-80min。
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