[发明专利]一种提高发射机性能的方法、存储介质及通信设备有效
申请号: | 201911097044.X | 申请日: | 2019-11-11 |
公开(公告)号: | CN112787675B | 公开(公告)日: | 2022-09-16 |
发明(设计)人: | 曾荣幸;吴浩;许超;李长永 | 申请(专利权)人: | 海能达通信股份有限公司 |
主分类号: | H04B1/04 | 分类号: | H04B1/04 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 李庆波 |
地址: | 518057 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 发射机 性能 方法 存储 介质 通信 设备 | ||
本申请公开了一种提高发射机性能的方法、存储介质及通信设备,该发射机包括环状连接的发射链路以及反馈电路,该方法包括利用发射链路接收第一信号,对第一信号进行放大处理,以得到第二信号,并对第二信号进行耦合,以生成反馈信号,其中,第二信号的功率满足预设发射功率条件;利用反馈电路对反馈信号进行衰减,并将衰减后的反馈信号输入发射链路;其中,在发射机的开启和关闭过程中衰减倍数逐渐变化,进行深度负反馈状态和正常发射状态之间的过渡,在衰减倍数变化时第一信号中的直流分量进行相应变化。通过上述方式,本申请能够改善邻道开关谱功率,同时减少对反馈信号进行衰减变化造成的载波泄露。
技术领域
本申请涉及通信技术领域,具体涉及一种提高发射机性能的方法、存储介质及通信设备。
背景技术
陆上集群无线电(TETRA,Trans European Trunked Radio)产品采用时分双工(TDD,Time Division Duplexing,)的工作方式,发射信号开关瞬间,会产生频谱扩展,干扰其它信道,所以TETRA协议对邻道开关谱功率(ACPS,Adjacent Channel Power due toSwitching Transients)指标有严格要求。通常情况下,TDD产品的发射链路都需要调试各级功放和射频开关等单元电路的开关时序,通过软件控制功放电压的上升、下降曲线或者基频信号幅度的上升、下降曲线,使最终输出的射频功率上升、下降曲线符合协议要求,ACPS指标符合协议要求。
本申请的发明人在长期研发中发现,由于器件增益以及阻抗等性能的离散性,TETRA产品在量产时ACPS指标不够稳定,即使多数机器的指标余量较大,仍有极少数机器会出现指标临界的情况;现有技术中改善开关谱特性的方案包括图1和图2所示的技术方案,图1所示的电路包括线性稳压电路11和动态电流源12,线性稳压电路11包括误差放大器111、反馈电路112以及过通元件113;该设计可以减小输出电压的变化率,防止其较快接近电源电压Vdd,维持过通元件113的饱和度,显著改善功率放大器的开关谱特性,但是反馈与控制的电参量是功率放大器的电压,在多级单元电路的发射系统中应用效果一般;图2所示的结构中,根据利用增强型数据速率全球移动通讯系统演进技术(EDGE,Enhanced DataRate for Global System For Mobile Communications Evolition)调制后信号和射频输出信号的关系,对填充比特进行优化;将经优化的填充比特与有效数据调制比特合成为调制比特;以及利用合成的调制比特获得优化的上升开关谱和下降开关谱;但是该设计在基带数字调制时改变信号,存在批量机器指标的一致性问题,在工作频率范围较宽的产品中应用效果一般;现有技术所提供的方案中发射链路里通常包含多级单元电路,各单元电路可能存在增益曲线斜率突然变大的状态,而且各单元电路在不同频点的增益不同,在工作频率范围较宽的情况下,ACPS指标很难调试,此外器件的增益或阻抗存在离散性,影响批量机器的指标一致性,造成性能恶化。
发明内容
本申请主要解决的问题是提供一种提高发射机性能的方法、存储介质及通信设备,能够改善邻道开关谱功率,同时减少对反馈信号进行衰减变化造成的载波泄露。
为解决上述技术问题,本申请采用的技术方案是提供一种提高发射机性能的方法,该发射机包括环状连接的发射链路以及反馈电路,该方法包括利用发射链路接收第一信号,对第一信号进行放大处理,以得到第二信号,并对第二信号进行耦合,以生成反馈信号,其中,第二信号的功率满足预设发射功率条件;利用反馈电路对反馈信号进行衰减,并将衰减后的反馈信号输入发射链路;其中,在发射机的开启和关闭过程中衰减倍数逐渐变化,进行深度负反馈状态和正常发射状态之间的过渡,在衰减倍数变化时第一信号中的直流分量进行相应变化。
为解决上述技术问题,本申请采用的另一技术方案是提供一种存储介质,该存储介质用于存储计算机程序,其特征在于,计算机程序在被处理器执行时,用于实现上述的提高发射机性能的方法。
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