[发明专利]排列基态自旋能级的方法

权利要求书

1.一种排列基态自旋能级的方法，其特征在于，该方法包括：

对待测样品进行扫场回波测试，获得一组电子顺磁共振谱线；

将获取的电子顺磁共振谱线中的一个共振磁场作为待测样品所在的环境磁场，对待测样品进行脉冲电子-核自旋双共振测试，判断是否能够测出核磁共振跃迁；

如果能够测出核磁共振跃迁，则得到核磁共振谱线，对得到的核磁共振谱线进行分组，确定核磁共振谱线所对应的核自旋量子数；对两条核磁共振谱线进行标定，这两条核磁共振谱线为采用脉冲电子-核自旋双共振测试所得到的核自旋量子数相同的两条核磁共振谱线，标定两条核磁共振谱线的电子自旋能级量子数，包括：对待测样品进行深低温处理，即在远低于电子等效塞曼温度的温度下使电子自旋处于极化状态；

对采用脉冲电子-核自旋双共振测试所得到的核自旋量子数相同的两条核磁共振谱线各施加一次脉冲序列来完成电子自旋状态的标定，包括：用射频和微波脉冲制造核自旋的极化；用射频强脉冲制造核自旋的相干，再通过微波脉冲将所述射频强脉冲制造核自旋的相干转移至电子自旋后读出；

结束本流程；

如果不能够测出核磁共振跃迁，则采用电子-核自旋双共振序列进行探测，获取采用脉冲电子-核自旋双共振测试无法测出的跃迁频率，包括：

用微波射频脉冲将电子自旋下能级搬运至电子自旋上能级，在电子-核自旋双共振序列末尾增加由射频脉冲所组成的清理序列以强制初始化布居数在超精细能级间的分布；其中，所述清理序列，是在平均模式下使用，单个脉冲序列的重复时间应大于电子自旋弛豫时间，小于核自旋弛豫时间；

通过微波射频脉冲使核自旋能级量子数的电子自旋共振跃迁去极化；观察电子自旋回波，并比较共振和未共振情况下回波的差异，射频脉冲的频率可以扫描以产生共振信号，从而得出脉冲电子-核自旋双共振测试无法测出的核磁共振跃迁的跃迁频率。

2.根据权利要求1所述的排列基态自旋能级的方法，其特征在于，所述对待测样品进行深低温处理，温度范围为10mK至500mK。