[发明专利]预测晶体管故障的方法及其系统

权利要求书

1.一种预测晶体管故障的方法，用于绝缘栅双极型晶体管的热疲劳故障预测，其特征在于，所述方法包括：

获取晶体管的导通压降数据和结温数据，并确定所述结温数据和所述导通压降数据的第一对应关系；

根据所述第一对应关系确定晶体管的剩余使用寿命，包括：

根据所述第一对应关系获取晶体管的结温数据；

根据所述结温数据获取晶体管的结温差数据和平均结温数据；

根据所述结温差数据和所述平均结温数据，计算晶体管的剩余使用寿命数据；

获取所述晶体管的已工作时间数据，并确定所述已工作时间数据与所述剩余使用寿命数据的第二对应关系，包括：

利用二乘法算法对第二对应关系进行平滑处理；

确定处理后的所述第二对应关系每个点集变化的一阶导数数据，将所述一阶导数数据作为晶体管的经济寿命数据；

获取所述经济寿命数据的第一变化数据和第二变化数据，其中，所述第一变化数据为所述经济寿命数据与晶体管工作时间的线性变化数据；所述第二变化数据为所述经济寿命数据与晶体管工作时间的非线性变化数据；

根据所述第二对应关系确定晶体管的经济寿命数据，判断所述经济寿命数据是否大于晶体管在临界饱和状态下所对应经济寿命数据，包括：

获取所述第一变化数据和所述第二变化数据相重合数据K₀，K₀表示斜率；

判断2K₀是否大于晶体管在临界饱和状态下所对应经济寿命数据，如果是，判定晶体管的热疲劳失效的结温为2K₀的所对应结温并进行显示，否则，不进行显示。

2.一种预测晶体管故障的系统，其特征在于，所述系统包括：

获取模块，用于获取晶体管的导通压降数据、结温数据和已工作时间数据，并确定所述结温数据和所述导通压降数据的第一对应关系；

第一计算模块，用于根据所述第一对应关系确定晶体管的剩余使用寿命，包括:

根据所述第一对应关系获取晶体管的结温数据；

根据所述结温数据获取晶体管的结温差数据和平均结温数据；

根据所述结温差数据和所述平均结温数据，计算晶体管的剩余使用寿命数据；

第二计算模块，确定所述已工作时间数据与所述剩余使用寿命数据的第二对应关系，包括：

利用二乘法算法对第二对应关系进行平滑处理；

确定处理后的所述第二对应关系每个点集变化的一阶导数数据，将所述一阶导数数据作为晶体管的经济寿命数据；

获取所述经济寿命数据的第一变化数据和第二变化数据，其中，所述第一变化数据为所述经济寿命数据与晶体管工作时间的线性变化数据；所述第二变化数据为所述经济寿命数据与晶体管工作时间的非线性变化数据；

判定模块，用于根据所述第二对应关系确定晶体管的经济寿命数据，判断所述经济寿命数据是否大于晶体管在临界饱和状态下所对应经济寿命数据，包括：

获取所述第一变化数据和所述第二变化数据相重合数据K₀，K₀表示斜率；

判断2K₀与是否大于晶体管在临界饱和状态下所对应经济寿命数据，如果是，判定晶体管的热疲劳失效的结温为2K₀的所对应结温并进行显示，否则，不进行显示。

3.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1所述的方法步骤。

4.一种确定晶体管故障的装置，其特征在于，

包括存储器和处理器，所述存储器能够存储指令，所述指令用于控制所述处理器进行操作以执行根据权利要求1所述的方法步骤。