[发明专利]电路装置、移相和调幅方法、波束成形方法和存储单元

权利要求书

1.一种电路装置(100)，包括：

放大器(110)，其用于放大经调制信号(102)；

信号预失真电路(180，180b)，其用于在包括所述放大器(110)的信号路径(108)中执行所述经调制信号(102)的前馈预失真，其中，所述信号预失真电路(180，180b)包括：

包络检测器(120)，其被配置成提供描述所述经调制信号(102)的包络的包络信息(124)；以及

内置测试电路(122)，其被配置成确定描述由幅度变化引起的所述信号路径(108)中的失真的失真信息(136，138)；

其中，所述信号预失真电路(180，180b)被配置成基于所述失真信息(136，138)来执行所述经调制信号(102)的前馈预失真，使得：

-根据所述包络信息(124)将可变相移施加至所述信号路径(108)中的经调制信号(102)，其中，所述包络信息(124)与所述可变相移之间的关系取决于由所述内置测试电路(122)提供的所述失真信息(136)；以及/或者

-根据所述包络信息(124)来控制所述信号路径(108)中的信号的增益，其中，所述包络信息(124)与增益控制信号(132)之间的关系取决于由所述内置测试电路(122)提供的所述失真信息(138)。

2.根据权利要求1所述的电路装置，其中，所述信号预失真电路(180，180b)被配置成调整所述可变相移以跟随瞬时包络信息(124)和/或提供所述增益控制信号(132)以跟随所述瞬时包络信息(124)。

3.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中，所述包络检测器(120)被配置成提供所述包络信息作为模拟包络信号(124)，

其中，所述电路装置包括映射电路(126，130)，所述映射电路(126，130)被配置成：

根据所述失真信息(136)，将所述模拟包络信号(124)映射至模拟相移调整信号(128)，以及/或者调整映射特性；以及/或者

根据所述失真信息(138)，将所述模拟包络信号(124)映射至模拟增益控制信号(132)，以及/或者调整所述映射特性。

4.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中，所述信号预失真电路(180，180b)包括映射电路(126，130)，所述映射电路(126，130)被配置成具有非线性的、能够调整的映射特性和/或被配置成根据所述包络信息(124)来调整非线性映射特性。

5.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中，所述信号预失真电路被配置成使得所述包络检测器(120)的带宽和/或所述映射电路(126，130)的带宽和/或信号移相器(112)的带宽和/或增益调整器(116)的带宽，大于被施加于所述经调制信号(102)的调制的调制带宽或者大于或等于所述调制带宽的两倍。

6.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中，所述信号预失真电路(180b)被配置成根据所述包络信息(124)来修改所述放大器(110b)的增益，其中，所述包络信息(124)与所述增益之间的关系取决于所述失真信息(138)。

7.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中，所述内置测试电路(122)被配置成将关于幅度调制-幅度调制失真的信息(138)和/或关于幅度调制-相位调制失真的信息(136)确定为所述失真信息。

8.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中，所述内置测试电路(122)被配置成在测试模式下确定所述放大器(110)的输出端处的幅度以得出所述失真信息(136)和/或确定所述放大器(110)的输出端处的相位以得出所述失真信息(138)。

9.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，还包括测试信号源(206)，所述测试信号源(206)被配置成注入具有可设置的幅度的测试信号(102')，使得所述内置测试电路(122)测量与所述放大器(110)的输出端处的放大的测试信号(104')有关的失真信息(136，138)。