[发明专利]一种探针模组

说明书

本发明公开一种探针模组，包括本体、浮板、以及探针组件；探针组件包括：结合固定在所述本体顶部的盖板；结合在所述盖板底面的且位于中空内腔的包括有若干针槽的型芯；以及与若干针槽一一对应的被配置在针槽内的若干刀片针，所述针槽形状与刀片针相匹配。本发明提供的探针模组通过将浮板与探针组件分别固定于本体两侧的设计，且通过在型芯上设置与刀片针匹配的针槽，使得多个刀片针可一一对应安装于针槽内，保证的装配的有效性，且由于针槽的形状与刀片针形状一致，使得整体结构更紧凑，增加了测试过程的稳定性。

技术领域

本发明涉及测试装置技术领域，更具体地，涉及一种探针模组。

背景技术

随着现代社会的快速发展，各式各样的电子产品进入到人们的生活中，人们对电子产品的质量要求也越来越高，从而在电子产品的生产过程中，每道工序都需要对半成品产品进行检测，目前通常采用测试设备与产品电连接进行测试，测试设备的连接件为金属探针，现有技术主要针对的是Pogo Pin(圆柱形针)，该结构形式的探针存在Pogo pin与液晶模组端的接触是点接触，易扎伤产品，Pogo pin的寿命偏低，本身电阻值大，测试信号不稳定等诸多弊端。目前扁平状的刀片针正逐步替代Pogo Pin(圆柱形针)被广泛应用，刀片针与液晶模组端的接触是线接触，接触面积大，寿命较Pogo pin高，本身电阻值小，测试信号更加稳定。

但现有技术中装配刀片针的结构复杂，成本高，无法实现刀片针的准确定位，检测稳定性差。且在压接过程中无法保证刀片针与产品准确对位，一旦出现偏离，将会出现刀片针针尖损伤的风险。

发明内容

鉴于上述问题，本发明要解决的技术问题是提供一种易于安装的探针模组。

为解决上述技术问题，本发明采用下述技术方案：

一种探针模组，所述模组包括：

具有中空内腔的本体；

位于所述本体底部的浮板；以及

位于浮板的背离本体一侧的探针组件；

所述探针组件包括：

结合固定在所述本体顶部的盖板；

结合在所述盖板底面的且位于中空内腔的包括有若干针槽的型芯；以及

与若干针槽一一对应的被配置在针槽内的若干刀片针，所述针槽形状与刀片针相匹配；

所述浮板上包括有与刀片针电接触端一一对应的若干针孔，所述浮板被配置为在刀片针延伸方向上可相对本体浮动，刀片针的电接触端可在浮板靠近本体的位置由针孔探出浮板的背离本体的一侧表面。

此外，优选地方案是，所述刀片针上包括有限位边，所述型芯上形成有限位件，通过所述限位件与限位边的配合，所述刀片针被限位固定于型芯的针槽内。

此外，优选地方案是，所述型芯包括有具有若干针槽的本体部，以及位于针槽内的由型芯本体部凸起形成的凸台，所述凸台形成限位件。

此外，优选地方案是，所述型芯包括有具有若干针槽的本体部，以及形成在所述本体部上的限位面，限位面形成所述限位件。

此外，优选地方案是，所述浮板通过等高螺丝结合固定在所述本体的底面上，所述浮板与本体之间包括有弹性件，所述弹性件的作用力方向沿所述等高螺丝的轴向方向。

此外，优选地方案是，所述型芯与所述盖板之间包括有定位柱和与定位柱对应配合的定位孔。

此外，优选地方案是，所述本体与所述盖板之间包括有定位销和与定位销对应配合的定位销孔。

此外，优选地方案是，所述浮板的在位于靠近本体的极限位置时，所述浮板与型芯之间不相接触。