[发明专利]一种高光谱快速大气校正参数化方法有效

专利信息
申请号: 201911100912.5 申请日: 2019-11-12
公开(公告)号: CN110987821B 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 李海巍;陈军宇;张耿;胡炳樑 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 史晓丽
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 光谱 快速 大气 校正 参数 方法
【权利要求书】:

1.一种高光谱快速大气校正参数化方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,获取环境及观测参数

获取大气环境参数、太阳天顶角和像元观测参数;

步骤2,建立大气校正计算模型

建立大气校正计算模型:其中,ρt为地表反射率,L0v)为路径辐射项,S为大气半球反照率,Fd为下行总辐射,T(μv)为大气透过率,L(μv)为表观辐亮度;

步骤3,设定预设地表反射率值和最终海拔高度H2值

依次设定5个预设地表反射率值:0,a1,a2,a3,a4,其中,1>a1,a2,a3,a4≥0;预设地表反射率值对应为0、a1和a2时,选取像元观测高度作为MODTRAN模型的最终海拔高度H2值,预设地表反射率值对应为a3和a4时,选取地面高程作为MODTRAN模型的最终海拔高度H2值;每个预设地表反射率值对应一个最终海拔高度H2值;

步骤4,利用MODTRAN模型得到不同波段对应的表观辐亮度

将步骤3中的预设地表反射率值和对应的最终海拔高度H2值依次输入MODTRAN模型,再将步骤1得到的大气环境参数、太阳天顶角、像元观测参数和搭载于卫星的成像光谱仪的传感器参数输入MODTRAN模型,得到不同预设地表反射率值下,不同波段对应的表观辐亮度;

步骤5,利用大气校正计算模型计算大气校正参数

依次将预设地表反射率值:0,a1,a2,a3,a4,以及不同波段对应的表观辐亮度代入步骤2中的大气校正计算模型,得到不同波段对应的L0v)、T(μv)、S和Fd;其中,预设地表反射率值代入ρt,不同波段对应的表观辐亮度代入L(μv);

步骤6,建立查找表

离线建立波段与L0v)、T(μv)、S、Fd对应关系的查找表;

步骤7,计算表观辐亮度

通过搭载于卫星的成像光谱仪获取地物目标每个像元的DN值,计算每个像元对应的表观辐亮度L(μv)=Gain×DN+Bias,其中,Bias为成像光谱仪的偏差值,Gain为成像光谱仪的增值;

步骤8,查表完成大气校正

通过搭载于卫星的成像光谱仪获取地物目标每个像元的波段;依据地物目标每个像元的波段,通过步骤6的查找表得到与波段对应的L0v)、T(μv)、S、Fd;再结合步骤7中每个像元的表观辐亮度L(μv),由如下公式计算地物目标每个像元的真实地表反射率,完成大气校正:

2.如权利要求1所述一种高光谱快速大气校正参数化方法,其特征在于:步骤1中,所述大气环境参数包括获取地物目标的时间、地点、大气廓线高度、压强、温度、水汽含量、二氧化碳含量、臭氧含量和气溶胶类型。

3.如权利要求2所述一种高光谱快速大气校正参数化方法,其特征在于:步骤1中,所述像元观测参数包括像元观测天顶角、像元观测高度和地面高程。

4.如权利要求1或2或3所述一种高光谱快速大气校正参数化方法,其特征在于:步骤3中,a1=a3,a2=a4

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