[发明专利]ADC采样时间控制方法和系统及电子控制装置

说明书

一种ADC采样时间控制方法和系统及电子控制装置，根据本发明的一个实施例的ADC采样时间控制方法包括以下步骤：电子控制装置(ECU，Electronic Control Unit)以相似信号为基准，对从多个传感器输入的模拟传感器信号进行分组；所述电子控制装置设置用于将所述被分组后的模拟传感器信号转换为数字信号的采样时间(Sampling Time)；所述电子控制装置根据所述所设置的采样时间将所述分组的模拟传感器信号转换为数字信号，从而获取传感器值。

技术领域

本发明涉及一种利用能动可变采样及能动可变相位控制的ADC采样及资源使用优化方法。更为详细地，涉及一种利用采样率和采样相位来执行ADC采样，并优化资源使用的方法及对此进行执行的电子控制装置。

背景技术

随着汽车技术与电气电子、信息通信技术等结合的活跃开展，对用于车辆的控制器的需求与日俱增，所述控制器对传动系统(Powertrain)、变速装置(Transmission)等多种汽车的部件进行控制。

由此，最近正将车辆内所设置的多种控制器集成为一个，由一个集合而成的控制器来执行车辆的控制，并且多个控制器需要的传感器信息由车辆的微控制器(MCU，MicroController Unit)内的模数转换器(ADC，Analog to Digital Converter)匹配各个传感器信息进行单独处理。

但是，问题在于，设置于车辆内部，对测定各种参数的大量传感器进行信息处理的一个ADC，其在处理时向MCU加载很多负荷，对大量模拟信号分别精确地采样(Sampling)并处理，此过程需要大量时间。

因此，需要一种技术，在将大量的传感器信号处理为数字信号的过程中，能够降低MCU的资源负担，本发明涉及到此技术。

【先行技术文献】

【专利文献】

(专利文献0001)韩国公开专利公报第10-2015-0055303号(2015.05.21.)。

发明内容

要解决的技术问题

本发明意在解决的技术问题是提供一种能够集成控制多个控制器的电子控制装置。

本发明意在解决的另一个技术问题是提供一种ADC采样时间控制方法，所述方法根据电子控制装置内的MCU的资源能够有效处理接收的从多个控制器输入的传感器信号。

本发明的技术问题不受以上提及的技术问题的限定，未被提及的其他技术问题根据以下记载能够被通常的技术人员明确理解。

解决技术问题的手段

为了实现所述技术问题，根据本发明的一个实施例的ADC采样时间控制方法包括以下步骤：电子控制装置(ECU,Electronic Control Unit)以相似信号为基准，对从多个传感器输入的模拟传感器信号进行分组；所述电子控制装置设置用于将被分组后的模拟传感器信号转换为数字信号的采样时间(Sampling Time)；以及所述电子控制装置根据所设置的采样时间将所述被分组后的模拟传感器信号转换为数字信号，从而获取传感器值。

根据一个实施例，在基于所述相似信号进行分组的步骤之前，还可以包括以下步骤：所述电子控制装置对所述传感器值的呼叫时间点进行确认，并且在确认后的呼叫时间点对模拟传感器信号的采样率(Sampling Rate)、采样相位(Sampling Phase)以及采样周期时间(Sampling Cycle Time)中的至少一者以上进行分析。

根据一个实施例，所述传感器值的呼叫时间点可以是，所述电子控制装置接收输入的周期性任务呼叫时间点，或者是所述电子控制装置测定的非周期性的传感器信号的呼叫时间点。