[发明专利]eMMC固件测试方法及装置

权利要求书

1.一种eMMC固件测试方法，其特征在于，包括：

测试设备向eMMC发送信息获取指令，所述测试设备包括计算机端、eMMC测试座和eMMC调试板，所述eMMC调试座用于放置eMMC，所述eMMC调试板用于调整eMMC的固件，所述计算机端用于测试经所述eMMC调试板调整后的eMMC的固件；

根据所述eMMC上传的反馈信息，判定所述测试设备是否与所述eMMC建立连接；

当所述测试设备与所述eMMC建立连接后，根据实际需求设定所述eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数；在设定eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数时，根据待测试eMMC的重点测试项目做针对性的测试，当需要重点测试固件的掉电保护能力时，增加对于eMMC上下电测试的测试次数，并减少写读、擦读的测试次数；当需要重点测试固件的读写性能时，增加对于eMMC写读测试的测试次数，并减少上下电的测试次数；

根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果；

若在测试过程中，所述eMMC的运行出现错误，则控制所述eMMC调试板对所述固件进行适应性调整。

2.根据权利要求1所述的eMMC固件测试方法，其特征在于，所述根据所述eMMC上传的反馈信息，判定所述测试设备是否与所述eMMC建立连接包括：

若接收到所述反馈信息，则判定所述测试设备与所述eMMC建立连接；

若未接收到所述反馈信息，则判定所述测试设备未与所述eMMC建立连接；

其中，所述反馈信息为所述eMMC的型号及内存参数。

3.根据权利要求1所述的eMMC固件测试方法，其特征在于，所述根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果包括：

在持续的上下电测试过程中，若所述eMMC能够正常执行擦、写、读指令，则判定所述固件的掉电保护功能正常；

在持续的写读测试过程中，若读出数据与写入数据一致，则判定所述固件的读写功能正常；

在持续的擦读测试过程中，若读出数据为零，则判定所述固件的擦除功能正常。

4.根据权利要求3所述的eMMC固件测试方法，其特征在于，所述根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果还包括：

在所述先写读后擦读再上下电的测试过程中，若其中任何一个测试步骤出现错误，则停止测试并报错。

5.根据权利要求4所述的eMMC固件测试方法，其特征在于，所述在所述先写读后擦读再上下电的测试过程中，若其中任何一个测试步骤出现错误，则停止测试并报错包括：

确定出错的测试步骤，并获取出错的数据块地址。

6.一种eMMC固件测试装置，其特征在于，包括：

指令发送模块，用于测试设备向eMMC发送信息获取指令，所述测试设备包括计算机端、eMMC测试座和eMMC调试板，所述eMMC调试座用于放置eMMC，所述eMMC调试板用于调整eMMC的固件，所述计算机端用于测试经所述eMMC调试板调整后的eMMC的固件；

连接判定模块，用于根据所述eMMC上传的反馈信息，判定所述测试设备是否与所述eMMC建立连接；

测试设定模块，用于当所述测试设备与所述eMMC建立连接后，根据实际需求设定所述eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数；在设定eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数时，根据待测试eMMC的重点测试项目做针对性的测试，当需要重点测试固件的掉电保护能力时，增加对于eMMC上下电测试的测试次数，并减少写读、擦读的测试次数；当需要重点测试固件的读写性能时，增加对于eMMC写读测试的测试次数，并减少上下电的测试次数；

循环测试模块，用于根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果，若在测试过程中，所述eMMC的运行出现错误，则控制所述eMMC调试板对所述固件进行适应性调整。