[发明专利]一种UTBB光电探测器像素单元、阵列和方法有效

专利信息
申请号: 201911108333.5 申请日: 2019-11-13
公开(公告)号: CN111063702B 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 杜刚;刘力桥;刘晓彦 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 刘广达
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 utbb 光电 探测器 像素 单元 阵列 方法
【说明书】:

本申请公开了一种UTBB光电探测器像素单元、阵列和方法,包括:硅膜层、埋氧层、电荷收集层和衬底,所述硅膜层、埋氧层、电荷收集层和和衬底依次从上至下设置;所述硅膜层包括:NMOS管或PMOS管;所述电荷收集层包括电荷收集控制区和电荷聚集区;所述衬底包括:N型衬底或P型衬底。在电荷聚集区周围形成向心电场,光生电荷在向心电场的作用下聚集在相应的像素单元内。向心电场的存在提高了光电转化效率,抑制了像素间串扰,节省了浅槽隔离的面积,减小了尺寸,使其更适合于亚微米像素。

技术领域

本申请涉及硅基光电探测器领域,尤其涉及一种UTBB光电探测器像素单元、阵列和方法。

背景技术

光电成像探测器广泛用于军事、医疗、汽车、移动设备等。目前主流光电成像探测器为电荷耦合器件(Charge-coupledDevice,CCD)光电器件及CMOS-APS光电器件,CCD光电器件直接通过电荷转移进行光电探测,而CMOS-APS光电器件通过像素单元光电二极管收集电荷后转变为电压信号通过CMOS电路放大并读取。两种光电探测器件具有各自的优势和不足。但由于器件本身结构限制,两种光电探测器单个像素单元均包含多个晶体管等器件结构,使得像素尺寸局限在微米量级以上无法进一步缩小。使用单个晶体管,如超薄体及埋氧(Ultra-Thin Box and Body,UTBB)结构,能够有效降低光电探测单元的像素单元尺寸。然而目前有采用UTBB结构作为图像传感器的方案中,需要采用浅槽隔离来抑制像素间的串扰,限制了像素单元的进一步缩小。

综上所述,需要提供一种尺寸小且能够抑制串扰的光电探测器像素单元、阵列和方法。

发明内容

为解决以上问题,本申请提出了一种UTBB光电探测器像素单元、阵列和方法。

一方面,本申请提出了一种UTBB光电探测器像素单元,包括:硅膜层、埋氧层、电荷收集层和衬底,所述硅膜层、埋氧层、电荷收集层和和衬底依次从上至下设置;

所述硅膜层包括:NMOS管或PMOS管;

所述电荷收集层用于形成向心电场以收集光生电荷,包括电荷收集控制区和电荷聚集区;

所述衬底包括:N型衬底或P型衬底。

优选地,所述NMOS管的源端和漏端分别位于NMOS管的沟道两侧,NMOS管的栅端在NMOS管的沟道上;

所述PMOS管的源端和漏端分别位于PMOS管的沟道两侧,PMOS管的栅端在PMOS管的沟道上。

第二方面,本申请提出了一种UTBB光电探测器阵列,包括:多个所述的光电探测器像素单元,多个所述光电探测器像素单元组成光电探测器阵列,其中所述光电探测器阵列的行数和列数都为大于等于2的自然数。

优选地,相邻的所述光电探测器像素单元的NMOS管或PMOS管使用同一个源端或漏端。

优选地,所述光电探测器阵列包括多列字线、多行位线、公共区电极和公共源极,其中,所有NMOS管的源端或PMOS管的源端与公共源极相连,电荷收集层所有的电荷收集控制区与所述公共区电极相连,每列光电探测器的栅端和与其对应的字线相连,每行光电探测器的漏极和与其对应的位线相连。

第三方面,本申请提出了一种UTBB光电探测器像素单元的探测方法,包括:

对电荷收集控制区施加相应电压,在电荷聚集区周围产生向心电场,入射光在电荷收集层与衬底中产生光生载流子,光生载流子在向心电场的作用下进入电荷聚集区,并在埋氧层下聚集;

对硅膜层的栅端和漏端施加正电压,对电荷收集控制区施加相应电压;

电荷聚集区之中聚集的光生载流子根据光照强度改变,从而使NMOS管或PMOS管的阈值电压和漏端电流均发生改变;

测量埋氧层上方硅膜层的漏端电流;

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