[发明专利]一种UTBB光电探测器像素单元、阵列和方法有效
申请号: | 201911108333.5 | 申请日: | 2019-11-13 |
公开(公告)号: | CN111063702B | 公开(公告)日: | 2022-10-04 |
发明(设计)人: | 杜刚;刘力桥;刘晓彦 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 刘广达 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 utbb 光电 探测器 像素 单元 阵列 方法 | ||
本申请公开了一种UTBB光电探测器像素单元、阵列和方法,包括:硅膜层、埋氧层、电荷收集层和衬底,所述硅膜层、埋氧层、电荷收集层和和衬底依次从上至下设置;所述硅膜层包括:NMOS管或PMOS管;所述电荷收集层包括电荷收集控制区和电荷聚集区;所述衬底包括:N型衬底或P型衬底。在电荷聚集区周围形成向心电场,光生电荷在向心电场的作用下聚集在相应的像素单元内。向心电场的存在提高了光电转化效率,抑制了像素间串扰,节省了浅槽隔离的面积,减小了尺寸,使其更适合于亚微米像素。
技术领域
本申请涉及硅基光电探测器领域,尤其涉及一种UTBB光电探测器像素单元、阵列和方法。
背景技术
光电成像探测器广泛用于军事、医疗、汽车、移动设备等。目前主流光电成像探测器为电荷耦合器件(Charge-coupledDevice,CCD)光电器件及CMOS-APS光电器件,CCD光电器件直接通过电荷转移进行光电探测,而CMOS-APS光电器件通过像素单元光电二极管收集电荷后转变为电压信号通过CMOS电路放大并读取。两种光电探测器件具有各自的优势和不足。但由于器件本身结构限制,两种光电探测器单个像素单元均包含多个晶体管等器件结构,使得像素尺寸局限在微米量级以上无法进一步缩小。使用单个晶体管,如超薄体及埋氧(Ultra-Thin Box and Body,UTBB)结构,能够有效降低光电探测单元的像素单元尺寸。然而目前有采用UTBB结构作为图像传感器的方案中,需要采用浅槽隔离来抑制像素间的串扰,限制了像素单元的进一步缩小。
综上所述,需要提供一种尺寸小且能够抑制串扰的光电探测器像素单元、阵列和方法。
发明内容
为解决以上问题,本申请提出了一种UTBB光电探测器像素单元、阵列和方法。
一方面,本申请提出了一种UTBB光电探测器像素单元,包括:硅膜层、埋氧层、电荷收集层和衬底,所述硅膜层、埋氧层、电荷收集层和和衬底依次从上至下设置;
所述硅膜层包括:NMOS管或PMOS管;
所述电荷收集层用于形成向心电场以收集光生电荷,包括电荷收集控制区和电荷聚集区;
所述衬底包括:N型衬底或P型衬底。
优选地,所述NMOS管的源端和漏端分别位于NMOS管的沟道两侧,NMOS管的栅端在NMOS管的沟道上;
所述PMOS管的源端和漏端分别位于PMOS管的沟道两侧,PMOS管的栅端在PMOS管的沟道上。
第二方面,本申请提出了一种UTBB光电探测器阵列,包括:多个所述的光电探测器像素单元,多个所述光电探测器像素单元组成光电探测器阵列,其中所述光电探测器阵列的行数和列数都为大于等于2的自然数。
优选地,相邻的所述光电探测器像素单元的NMOS管或PMOS管使用同一个源端或漏端。
优选地,所述光电探测器阵列包括多列字线、多行位线、公共区电极和公共源极,其中,所有NMOS管的源端或PMOS管的源端与公共源极相连,电荷收集层所有的电荷收集控制区与所述公共区电极相连,每列光电探测器的栅端和与其对应的字线相连,每行光电探测器的漏极和与其对应的位线相连。
第三方面,本申请提出了一种UTBB光电探测器像素单元的探测方法,包括:
对电荷收集控制区施加相应电压,在电荷聚集区周围产生向心电场,入射光在电荷收集层与衬底中产生光生载流子,光生载流子在向心电场的作用下进入电荷聚集区,并在埋氧层下聚集;
对硅膜层的栅端和漏端施加正电压,对电荷收集控制区施加相应电压;
电荷聚集区之中聚集的光生载流子根据光照强度改变,从而使NMOS管或PMOS管的阈值电压和漏端电流均发生改变;
测量埋氧层上方硅膜层的漏端电流;
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的