[发明专利]一种扫描链动态重配置的确定型test-per-clock测试装置

权利要求书

1.一种扫描链动态重配置的确定型test-per-clock测试装置，包括：选择器、模式控制器、响应分析器以及动态重配置的扫描链组；其特征在于：该test-per-clock测试装置为基于扫描链动态重配置的test-per-clock分块测试装置，所述扫描链中的扫描单元结构分为SFD和DFD结构，扫描链类型分成SFD扫描链和DFD扫描链，扫描链的测试模式分成移位测试模式(S)扫描链和响应压缩模式(C)扫描链。

2.如权利要求1所述的一种扫描链动态重配置的确定型test-per-clock测试装置，其特征在于：

所述的test-per-clock测试装置为基于扫描链动态重配置的test-per-clock分块测试装置；

所述的SFD扫描链采用SFD扫描单元串联实现；

所述的DFD扫描链采用DFD扫描单元串联实现；

测试时，每条扫描链有两种可选工作模式，分别为移位测试模式(S)和响应压缩模式(C)；处于移位测试模式(S)的扫描链构成移位寄存器，测试数据通过选择器加载到各移位寄存器中，每一测试时钟周期产生一个移位测试向量；同时处于响应压缩模式(C)的扫描链构成响应压缩器，并行地接收并处理来自移位测试模式(S)扫描链激发的测试响应；当该测试周期结束后，各扫描链通过模式控制器进行模式重新配置，进入下一测试周期。

3.如权利要求1或2所述的一种扫描链动态重配置的确定型test-per-clock测试装置，其特征在于：

所述的DFD扫描单元采用2个触发器实现，能同时进行移位测试模式(S)和响应压缩模式(C)。

4.如权利要求3所述的一种扫描链动态重配置的确定型test-per-clock测试装置，其特征在于：DFD扫描单元与SFD扫描单元的工作模式如下：

当控制信号M₁M₂的信号值为“11”时，DFD扫描单元与SFD扫描单元工作在移位测试模式，scan-in接收来自前一扫描单元的移位测试数据，并通过Q端将测试向量施加到电路；与此同时DFD扫描单元中的FF2触发器还能同时进行响应压缩；

当控制信号M₁M₂的信号值为“10”时，DFD扫描单元与SFD扫描单元工作在响应压缩模式(C)，进行响应压缩，同时输出Q端被阻塞；

当控制信号M₁M₂的信号值为“01”时，DFD扫描单元与SFD扫描单元单元工作在正常功能模式。

5.如权利要求4所述的一种扫描链动态重配置的确定型test-per-clock测试装置，其特征在于：

所述的扫描链的确定将同一扫描链上的任何扫描单元应用测试激励产生的测试响应都不会传送到本扫描链单元；

所述的扫描单元类型的确定根据需求进行确定，将时序电路测试生成简化为组合逻辑级测试生成，同时降低布线开销和测试模式切换次数；具体实现过程是：

扫描链的确定即扫描单元的分组，基于图着色理论实现，找出不相关的扫描单元，将其分组到同一扫描链上，使得同一扫描链上的任何扫描单元应用测试激励产生的测试响应都不会传送到本扫描链单元，而是由其它扫描链接收处理；

扫描单元类型的确定，扫描单元有两种类型，分别为DFD扫描单元和SFD扫描单元，扫描单元类型确定遵循以下规则：

①测试时，当某个触发器既要充当测试激励触发器又要充当测试响应触发器时，该触发器改造成DFD扫描单元；

②在需要考虑优化布线开销和控制复杂度上，可将触发器改造成DFD扫描单元；当实现某扫描单元布线开销超出预算时，可将其改造成DFD扫描单元归入DFD扫描链中以减小布线开销；另一方面，当某条扫描链上的单元个数低于设定阈值时可改造成DFD扫描单元，从而减少测试模式切换次数；

③其它触发器改造成SFD扫描单元。