[发明专利]一种基于光学元件的激光损伤检测方法及系统

说明书

本申请实施例提供一种基于光学元件的激光损伤检测方法及系统，涉及光学测量技术领域，该方法包括：控制第一光源和第二光源对光学元件进行照明；获取光学元件的照明图像；对照明图像进行图像增强处理，得到检测图像；输出检测图像。实施这种实施方式，能够提高对光学元件的激光损伤检测精度，并且避免一定的检测误差。

技术领域

本申请涉及光学测量技术领域，具体而言，涉及一种基于光学元件的激光损伤检测方法及系统。

背景技术

目前，在光学领域通常会对融石英、KDP晶体等光学元件进行激光损伤测试，而传统的激光损伤测试中，通常是使用高能激光对光学元件进行辐照，直到光学元件表面或者体内发生损伤时通过工作人员来对光学元件进行损伤评测。但是，在实践中发现，传统的这种激光损伤测试方式的检测精度较低，甚至有的时候还会出现检测误差。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种基于光学元件的激光损伤检测方法及系统，能够提高对光学元件的激光损伤检测精度，并且避免一定的检测误差。

本申请实施例第一方面提供了一种基于光学元件的激光损伤检测方法，包括：

控制第一光源和第二光源对所述光学元件进行照明；

获取所述光学元件的照明图像；

对所述照明图像进行图像增强处理，得到检测图像；

输出所述检测图像。

在上述实现过程中，该方法可以通过预设好的第一光源和第二光源对光学元件进行照明，以使光学元件被双光源照射的得到，同时根据双光源的差异性，使得光学元件在被照明的情况下存在图像显示差异，因此在此时获取光学元件的具有显示差异的照明图像，然后在对该照明图像进行处理，以使上述的显示差异得以放大，从而更好的显示出光学元件的状况。可见，实施这种实施方式，能够在照明图像中观察到在第一光源的照明下的那部分图像，同时在该照明图像中还能观察到在第二光源照明下的那部分图像，因此照明图像中可以同时观察到两种照明情况下的图像，从而实现多种效果并存的观看效果，进而增加检测的角度，提高检测精度，避免传统方法中的检测误差。另外，在第一光源和第二光源的照明情况产生冲突的时候，冲突部分也可以构成检测特征参与判断，从而提高光学元件的检测精度。

进一步地，所述第一光源为非相干光源，所述第二光源为准直激光源。

在上述实现过程中，限定第一光源为非相干光源，其原因是非相干光源能够更好的显示光学元件的照明全貌，便于对光学元件全貌的观察，其中非相干光源可以为任何普通光源；同时，限定第二光源为准直激光源，其原因是因为该光源可以更好的观察到激光损伤情况，同时在第一光源的照明下，第二光源不会过分干扰，从而也能保证检测的精度。可见，实施这种实施方式，第一光源和第二光源可以根据光源类型的搭配来提高对光学元件的检测精度。

进一步地，所述对所述照明图像进行图像增强处理，得到检测图像的步骤包括：

对所述照明图像进行二值化处理，得到二值化图像；

确定所述二值化图像为检测图像。

在上述实现过程中，该方法可以对照明图像进行二值化处理，以使照明图像中的特征显示的更加清楚，以使检测得到的图像效果更好，更便于观察。

进一步地，所述控制第一光源和第二光源对所述光学元件进行照明的步骤包括：

以预设的光源设置参数对第一光源和第二光源进行设置；

控制所述第一光源和所述第二光源对所述光学元件进行照明。