[发明专利]一种针筒检测方法及装置

权利要求书

1.一种针筒检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

采集所述针筒的图像，并将所述图像显示在显示器上，所述图像包括俯视图、侧视图，其中，所述俯视图和所述侧视图均是由CCD相机采集得到的；

将所述图像进行二值化操作，并设置二值化阈值，生成二值化图像，其中，所述二值化图像包括二值化俯视图和二值化侧视图；

在所述二值化图像上绘制校正物像比的线段，并接收所述线段对应的实际距离，调整所述二值化图像的比例；

在所述二值化图像上绘制检测框架，设置所述检测框架的参数；

当所述检测框架符合一定条件时，判断所述二值化图像不合格，生成所述二值化图像对应的所述针筒不合格信号；

发送所述不合格信号，其中，所述不合格信号用于控制气缸将不合格品推出；

所述在所述二值化俯视图上绘制检测框架，设置所述检测框架的参数具体包括以下步骤：

绘制所述二值化俯视图的顶部定位框架，并设置所述顶部定位框架的参数，其中，所述顶部定位框架包括一号顶部定位框架和二号顶部定位框架，所述二号顶部定位框架跟随所述一号顶部定位框架移动，所述一号顶部定位框架抓取所述针筒上边缘，所述二号顶部定位框架抓取所述针筒侧边缘；

在所述二值化俯视图上绘制缺胶检测框架，并设置所述缺胶检测框架的参数；

在所述二值化俯视图上绘制三个脏污检测圆形框架，并设置所述脏污检测圆形框架的参数。

2.根据权利要求1所述的一种针筒检测方法，其特征在于，所述在所述二值化图像上绘制检测框架，设置所述检测框架的参数具体包括以下步骤：

在所述二值化俯视图上绘制检测框架，设置所述检测框架的参数；

在所述二值化侧视图上绘制检测框架，设置所述检测框架的参数。

3.根据权利要求2所述的一种针筒检测方法，其特征在于，所述在所述二值化侧视图上绘制检测框架，设置所述检测框架的参数具体包括以下步骤：

绘制所述二值化侧视图的侧面定位框架，并设置所述侧面定位框架的参数，其中，所述侧面定位框架包括一号侧面定位框架和二号侧面定位框架，所述一号侧面定位框架跟随所述二号侧面定位框架移动，所述一号侧面定位框架抓取所述针筒胶塞上侧的白色，所述二号侧面定位框架抓取所述胶塞侧边的黑色；

在所述二值化侧视图上绘制所述针筒针尖的边缘检测框架，并设置所述边缘检测框架的参数；

在所述二值化侧视图上绘制所述针筒钢片和胶塞的面积检测框架，设置所述面积检测框架的参数，其中，所述面积检测框架包括：框选所述钢片原位置的一号面积框架、框选所述钢片下落位置的二号面积框架、框选所述胶塞位置的三号面积框架；

在所述二值化侧视图上绘制所述针筒钢片的有无检测框架，并设置所述有无检测框架的参数。

4.根据权利要求3所述的一种针筒检测方法，其特征在于，所述当所述检测框架符合一定条件时，判断所述二值化图像不合格，生成所述二值化图像对应的所述针筒不合格信号具体包括以下步骤：

当所述缺胶检测框架的二值化阴影面积低于下限时，判断所述二值化俯视图不合格，生成所述二值化俯视图对应的所述针筒不合格信号；

当所述脏污检测圆形框架的二值化阴影面积超出设定的上限值时，判断所述二值化俯视图不合格，生成所述二值化俯视图对应的所述针筒不合格信号；

当所述边缘检测框架根据比例尺折算距离超出上下限设定值时，判断所述二值化侧视图不合格，生成所述二值化侧视图对应的所述针筒不合格信号；

当所述一号面积框架内有效点面积超出设定的二值化上下限值时，判断所述钢片与字符重合，生成所述二值化侧视图对应的所述针筒不合格信号；其中，所述字符面积是指所述针筒外壁字符的有效点面积；

当所述二号面积框架内有效点面积大于第一预设值时，判断所述钢片下滑到所述二号面积框架位置，生成所述二值化侧视图对应的所述针筒不合格信号；

当所述三号面积框架内有效点面积小于第三预设值时，判断没有胶塞，生成所述二值化侧视图对应的所述针筒不合格信号；

当所述有无检测框架内有效点数量小于第四预设值时，判断缺少所述钢片，生成所述二值化侧视图对应的所述针筒不合格信号。