[发明专利]一种面向APD探测器阵列的非均匀性校正电路

权利要求书

1.一种面向APD探测器阵列的非均匀性校正电路，其特征在于，包括APD阵列模块、参考模块、鉴相器、电荷泵，其中，

所述APD阵列模块，用于根据第一输入信号进行复位处理后，对第二输入信号进行电流感应、整形处理得到第一数字信号；

所述参考模块，用于根据第三输入信号进行复位处理后，对第四输入信号进行电流感应、整形处理得到第二数字信号；

所述鉴相器，连接所述APD阵列模块、所述参考模块，用于比较所述第一数字信号、所述第二数字信号之间的相位差得到第一相位差信号、第二相位差信号；

所述电荷泵，连接所述鉴相器，用于根据所述第一相位差信号、所述第二相位差信号对所述电荷泵进行充放电处理得到第一处理信号；

所述电荷泵，还连接所述APD阵列模块，用于将所述第一处理信号输入至所述APD阵列模块。

2.根据权利要求1所述的面向APD探测器阵列的非均匀性校正电路，其特征在于，还包括反相偏压调节模块，其中，

所述反相偏压调节模块，连接所述电荷泵、所述APD阵列模块，用于对所述第一处理信号进行缓冲处理得到第二处理信号，并将所述第二处理信号输入至所述APD阵列模块。

3.根据权利要求1或2所述的面向APD探测器阵列的非均匀性校正电路，其特征在于，所述APD阵列模块包括若干APD阵列单元，每一所述APD阵列单元包括第一电流感应模块、第一脉冲整形模块，其中，

所述第一电流感应模块，用于根据所述第一输入信号进行复位处理后，对所述第二输入信号进行电流感应处理得到第一感应电流信号；

所述第一脉冲整形模块，连接所述第一电流感应模块、所述鉴相器，用于对所述第一感应电流信号进行整流处理得到所述第一数字信号，并将所述第一数字信号输入至所述鉴相器。

4.根据权利要求1或2所述的面向APD探测器阵列的非均匀性校正电路，其特征在于，所述参考模块包括第二电流感应模块、第二脉冲整形模块，其中，

所述第二电流感应模块，用于根据所述第三输入信号进行复位处理后，对所述第四输入信号进行电流感应处理得到第二感应电流信号；

所述第二脉冲整形模块，连接所述第二电流感应模块、所述鉴相器，用于对所述第二感应电流信号进行整流处理得到所述第二数字信号，并将所述第二数字信号输入至所述鉴相器。

5.根据权利要求1或2所述的面向APD探测器阵列的非均匀性校正电路，其特征在于，所述鉴相器为一动态鉴相器。

6.根据权利要求2所述的面向APD探测器阵列的非均匀性校正电路，其特征在于，所述反相偏压调节模块包括启动电路、偏置电路和缓冲电路，其中，

所述启动电路，用于自启动产生自启动信号；

所述偏置电路，连接所述启动电路，用于根据所述自启动信号生成偏置电压信号；

所述缓冲电路，连接所述偏置电路、所述电荷泵、所述APD阵列模块，用于根据所述偏置电压信号对所述第一处理信号进行缓冲处理得到所述第二处理信号，并将所述第二处理信号输入至所述APD阵列模块。