[发明专利]一种高光谱面阵探测器坏元检测方法

权利要求书

1.一种高光谱面阵探测器坏元检测方法，特征在于包括以下步骤：

(1)将成像光谱仪装机，开展航空飞行，在固定航高范围进行图像数据采集，获取不低于L帧对地成像图像，L为图像采集的帧数，L≥100000，将原始图像进行预处理；

(2)数据分布统计，统计航飞图像每个探元灰度值的累计直方图；

(3)特征统计位置与特征阈值提取，其步骤如下：

(3-1)提取每个探元灰度值为0的像元个数，提取每个探元累计直方图数为0.1×L和0.9×L对应的灰度值，并求取差值，获取统计数据差值结果，L为图像采集的帧数；

(3-2)将统计数据差值结果每行像元进行从小到大的排序，基于导数计算，提取每行排序后两侧的低拐点值和高拐点值，存储所有行的拐点值；

(4)坏元检测与标记，其步骤如下：

(4-1)获取步骤(3-1)提取的探元灰度值为0的像元个数，判断如果大于0，则判定该探元为坏元；

(4-2)获取步骤(3-2)计算的低拐点值和高拐点值，对每行数据与拐点阈值进行判断，如果小于低拐点值或者大于高拐点值，则判定该探元为坏元；

(4-3)将步骤(4-1)和(4-2)识别的坏元进行叠加，完成探测器的坏元检测。