[发明专利]一种等间距芯片阵列巨量转移的对位装置及方法有效
申请号: | 201911124506.2 | 申请日: | 2019-11-18 |
公开(公告)号: | CN111128799B | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
发明(设计)人: | 杨志军;苏丽云;陈新;黄瑞锐;白有盾 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/68;H01L27/15;H01L33/48 |
代理公司: | 广东广信君达律师事务所 44329 | 代理人: | 杨晓松 |
地址: | 510062 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 间距 芯片 阵列 巨量 转移 对位 装置 方法 | ||
本发明涉及一种等间距芯片阵列巨量转移的对位装置及方法,所述等间距芯片阵列巨量转移的对位装置包括:框架(1)、焊盘升降对位机构(2)、薄膜拉伸对位机构(3)和横向移动顶针机构(4);焊盘升降对位机构(2)通过水平横向移动和竖直移动调整焊盘的位置,薄膜拉伸对位机构(3)加紧拉伸薄膜并调整水平方向上的位置以对准焊盘;横向移动顶针机构(4)横向移动并通过刚柔耦合平台压紧薄膜。本发明专利从提升微小芯片阵列巨量转移的良率和效率出发,发明了一种等间距芯片阵列巨量转移的装置,实现芯片批量式转移,且转移良率高。
技术领域
本发明涉及芯片制造的技术领域,更具体地,涉及一种等间距芯片阵列巨量转移的对位装置及方法。
背景技术
LED显示具有明显优势,例如Micro LED耗电量仅为LCD的10%、OLED的50%。另外,与同样属于自发光显示器的OLED相较,在同样的电力下,亮度比OLED荧幕高出三倍,具有较佳的材料稳定性与无影像残留,且功耗更低。Micro LED、Mini LED一样,都是基于微小的LED晶体颗粒作为像素发光点,区别在于,Micro LED是采用的1-10微米的LED晶体,实现0.05毫米或更小尺寸像素颗粒的显示屏;Mini LED则是采用数十微米级的LED晶体,实现0.5-1.2毫米像素颗粒的显示屏。
随着LED像素化逐步发展带来的难度升级,面临芯片,封装,驱动IC等诸多难题。巨量转移是像素化带来的另一难点,尤其是Mini/Micro LED技术,芯片尺寸极小且数量庞大,将LED芯片批量式转移至电路基板(TFT基板或CMOS基板)需要耗费较多时间且良率不易控制,成为商用化的一大拦路虎。而目前巨量转移技术的难点在于如何提升转移良率,且每颗芯片的转移精准度控制在正负0.5微米以内,同时要求提高生产效率。
发明内容
本发明为克服上述现有技术中转移良率低、每颗芯片的转移精准度低以及生产效率低等至少一个缺陷,本发明专利从提升微小芯片阵列巨量转移的良率和效率出发,发明了一种等间距芯片阵列巨量转移的装置,实现芯片批量式转移,且转移良率高。本发明采用的具体技术方案如下。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造