[发明专利]一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器

说明书

本发明公开了一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，包括机壳、护垫和转动杆，所述机壳的一侧表面设置有引线接口，所述引线接口的相邻一侧设置有测试口，其中，所述引线接口和测试口的外侧设置有防尘盖，所述连接槽远离凸柱的相邻位置和机壳顶部的一侧开设有卡槽，所述护垫通过卡条连接在卡槽内，所述转动杆贯穿连接在盘齿的内部，所述转动杆伸出齿轮盒的外侧一端连接进支架内部的螺纹孔中。该具有防堵塞功能的集成电路测试仪器设置有防尘盖，通过转动机壳一侧的防尘盖，使得防尘盖通过转轴进行旋转，当防尘盖将机壳一侧的引线接口和测试口位置遮挡时，使得防尘盖将外界的灰尘等杂质排除在外，从而防止接口位置受到堵塞。

技术领域

本发明涉及集成电路仪器技术领域，具体为一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器。

背景技术

集成电路测试仪测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一，在集成电路产品生产和使用时，需要相应的集成电路测试仪器对集成电路产品进行相关电路检测，而市场上集成电路测试仪器的引线和接口大多裸露在外，使得集成电路测试仪器在长期使用时常受灰尘等杂质影响，为此，我们对于集成电路测试仪器的要求越来越高，希望能够通过对集成电路测试仪器的创新来提高集成电路测试仪器的使用效率，便于防尘防堵塞，便于仪器摆放角度的调节，使之发挥出最大的价值，随着科技的发展，具有防堵塞功能的集成电路测试仪器有了很大程度的发展，它的发展给人们在对集成电路产品进行电路检测时带来了很大的便利，其种类和数量也正在与日俱增。

目前市场上的具有防堵塞功能的集成电路测试仪器虽然种类和数量非常多，但是具有防堵塞功能的集成电路测试仪器有这样的缺点：集成电路测试仪器容易受灰尘等杂质堵塞，集成电路测试仪器容易受到碰撞，集成电路测试仪器不便于引线收纳，集成电路测试仪器不便于搬运携带，集成电路测试仪器不便于支脚组装和集成电路测试仪器不便于调节摆放角度。因此要对现在的具有防堵塞功能的集成电路测试仪器进行改进。

发明内容

本发明的目的在于提供一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，以解决上述背景技术提出的目前市场上的集成电路测试仪器容易受灰尘等杂质堵塞，集成电路测试仪器容易受到碰撞，集成电路测试仪器不便于引线收纳，集成电路测试仪器不便于搬运携带，集成电路测试仪器不便于支脚组装和集成电路测试仪器不便于调节摆放角度的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器，包括机壳、护垫和转动杆，所述机壳的一侧表面设置有引线接口，所述引线接口的相邻一侧设置有测试口，其中，

所述引线接口和测试口的外侧设置有防尘盖，所述防尘盖通过转轴和机壳固定，所述机壳远离测试口的一侧安装有散热口，所述机壳的两端开设有连接槽，所述连接槽的相邻一侧设置有凸柱，所述凸柱上连接有手柄，所述连接槽远离凸柱的相邻位置和机壳顶部的一侧开设有卡槽，所述护垫通过卡条连接在卡槽内；

所述机壳的底部一侧设置有底座，所述机壳的底部的中央位置设置有连接架，所述连接架的内部连接有抽屉，所述机壳底部远离底座的一侧固定有合页的一端，所述合页的另一端固定有齿轮盒，所述齿轮盒的一侧连接有螺纹杆，所述螺纹杆连接在固定板内部的滑槽中，所述螺纹杆伸出固定板的一端连接有第一旋钮；

所述齿轮盒的内部一端连接有直齿轮，所述直齿轮伸出齿轮盒的一端连接有第二旋钮，所述直齿轮的一端和盘齿的一端进行连接，所述转动杆贯穿连接在盘齿的内部，所述转动杆伸出齿轮盒的外侧一端连接进支架内部的螺纹孔中，所述支架的外侧两端设置有伸出架，所述齿轮盒底部的导向杆贯穿连接进伸出架的内部。

优选的，所述防尘盖为透明塑料材质，且防尘盖的截面尺寸小于机壳的截面尺寸，并且防尘盖通过转轴和机壳之间构成旋转结构。

优选的，所述卡槽设置有两组共八个，且两组所述卡槽关于机壳的竖直中心截面对称分布，并且卡槽的截面形状为“凸”状，而且卡槽的截面尺寸和卡条的截面尺寸相吻合。