[发明专利]硅基微显示屏及其制备方法在审
申请号: | 201911125609.0 | 申请日: | 2019-11-18 |
公开(公告)号: | CN110718579A | 公开(公告)日: | 2020-01-21 |
发明(设计)人: | 杨小龙;杜晓松;周文斌;张峰;孙剑;高裕弟 | 申请(专利权)人: | 昆山梦显电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L51/52;H01L51/56;H01L51/00 |
代理公司: | 32278 苏州携智汇佳专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 钱伟 |
地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 子像素区域 微显示屏 硅基板 阴极层 硅基 制备 保护层 刻蚀 等离子体轰击 第二保护层 第一保护层 镀膜工艺 使用寿命 真空环境 水汽 阳极层 子像素 去除 氧气 入侵 侧面 暴露 加工 | ||
本发明提供了一种硅基微显示屏及其制备方法,所述制备方法包括以下步骤:提供硅基板,在硅基板上定义若干子像素区域,并在所述硅基板上各个子像素区域分别依次制备阳极层、OLED层、阴极层及第一保护层;刻蚀第一子像素区域的阴极层及保护层;等离子体轰击并去除暴露的OLED层;在阴极层、保护层及OLED层的侧面形成第二保护层;依次形成其他子像素;基于以上步骤的结果来加工形成硅基微显示屏。本发明将刻蚀及镀膜工艺置于真空环境下进行,防止OLED层被水汽和氧气入侵,延长硅基微显示屏的使用寿命。
技术领域
本发明涉及OLED显示器制造领域,尤其涉及一种硅基微显示屏及其制备方法。
背景技术
OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光二极管)显示器与CTR(CathodeRay Tube,阴极射线管)显示器、TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid CrystalDisplay,薄膜晶体管液晶显示器)相比具有更轻和更薄的外观设计、更宽的可视视角、更快的响应速度以及更低的功耗等特点,因此OLED显示器已逐渐作为下一代显示设备而备受人们的关注。
目前的OLED显示屏体大多采用蒸镀不同OLED材料实现OLED图形化,这种方法在像素密度低于700ppi时是没有问题的。但是当像素密度大于800ppi时,现有的制造技术将进入物理瓶颈,存在高像素密度图形化困难的问题。
另外,OLED采用的有机材料对水氧特别敏感,非常容易与渗透进来的水汽发生反应,影响电荷的注入,渗透进来的水汽和氧气还会与有机材料发生化学反应,这些反应是引起OLED器件性能下降、OLED器件寿命缩短的主要因素。因此OLED器件需要严格的封装材料来保护它们免受水和氧气的侵蚀。
因此,有必要提供一种新的硅基微显示屏及其制备方法,以解决上述问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种硅基微显示屏制备方法,该硅基微显示屏制备方法将刻蚀及镀膜工艺置于真空环境中进行,防止OLED层被水汽和氧气入侵,延长了硅基微显示屏的使用寿命。
为实现上述目的,本发明提供了一种硅基微显示屏制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:提供一硅基板,在硅基板上定义若干子像素区域,并在所述硅基板上各个子像素区域制备阳极层;
S2:在所述子像素区域分别依次蒸镀OLED层、阴极层及第一保护层,以覆盖所述阳极层及硅基板;
S3:采用黄光工艺及刻蚀工艺刻蚀第一子像素区域的阴极层及保护层;
S4:等离子体轰击并去除暴露的OLED层;
S5:在刻蚀后的阴极层、保护层及OLED层的侧面形成第二保护层,完成第一子像素的制作;
S6:依次对其他子像素区域执行上述步骤S3至S5,直至形成各子像素;
S7:基于以上步骤的结果来加工形成硅基微显示屏。
作为本发明进一步改进的技术方案,所述步骤S1具体包括如下步骤:
S11:提供一硅基板,在硅基板上定义若干子像素区域,在所述子像素区域制备若干规则排列的过孔;
S12:采用自对准工艺,在所述硅基板上蒸镀阳极层,所述阳极层包括与所述过孔一一对应的阳极单元,所述阳极单元的宽度为5微米。
作为本发明进一步改进的技术方案,所述步骤S3中的刻蚀工艺、步骤S4及步骤S5在真空环境下进行,所述刻蚀工艺为反应离子刻蚀工艺,所述黄光工艺的工艺温度低于90℃,所述等离子体为氩离子。
作为本发明进一步改进的技术方案,所述步骤S5具体包括如下步骤:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的