[发明专利]一种基于高光谱图像的在体组织光学参数测量装置及方法有效
申请号: | 201911126086.1 | 申请日: | 2019-11-18 |
公开(公告)号: | CN110946553B | 公开(公告)日: | 2022-06-07 |
发明(设计)人: | 李晨曦;马雪洁;刘蓉;陈文亮 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00;G06F30/20 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 李林娟 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 光谱 图像 组织 光学 参数 测量 装置 方法 | ||
1.一种基于高光谱图像的在体组织光学参数测量方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
通过在体组织光学参数测量装置获取样品的8通道图像;
输入窄带滤光通道反射值和测量的漫反射光谱值,使用维纳矩阵重构得到光谱图;
结合Monte Carlo查表法与正向模型进行建模和数据拟合,得到样品的模拟反射光谱;
采用最优化反构算法得到组织光学参数及仿体浓度;
其中,所述使用维纳矩阵重构得到光谱图具体为:
获得系统矩阵和修正的维纳矩阵,重构出新的窄带反射值;利用修正后的维纳矩阵和系统矩阵与新的反射值相结合,得到漫反射光谱;
选择与实际测量的漫反射光谱相比,均方根误差值最小的光谱,作为最终重构的光谱;
其中,所述结合Monte Carlo查表法与正向模型进行建模和数据拟合,得到样品的模拟反射光谱具体为:
利用查找表算法实现正向模型的建立,确定不同波长下的组织吸收系数和散射系数,将其输入单层组织的查找表模型中,插值得到一系列的反射值,实现基于正向模型的反射光谱获取;
其中,所述采用最优化反构算法得到的组织光学参数及仿体浓度,具体为:
利用MATLAB中的fmincon函数求解多维无约束的非线性优化问题,给定系数初值矩阵,计算得到不同波长下仿体的光学参数,将其输入正向模型获取漫反射率;
引入校正系数,使目标函数最小,求解得到样品的浓度、吸收系数及约化散射系数;
其中,所述在体组织光学参数测量装置包括:卤素灯、聚焦镜、滤光轮组、相机以及光谱仪,
卤素灯作为光源,具有连续宽光谱特性,适用于可见光谱中的样本测量;滤光轮组作为分光装置包括不同中心波长的滤光片;相机搭配聚焦镜实现高分辨率成像;
捕捉仿体的二维图像信息和漫反射光谱,通过采集离散波长的图像,利用基于维纳拟合原理的光谱重构,缩短对组织成像的采集时间,实现不同波段多光谱图像的获取;
相机连接成功后,获取当前的通道位置P,设置目标通道位置为T=P+1;
若T<9,转动相机的内置滤光轮至目标位置T,判断当前位置P1是否与目标位置T相等;
若T=P1,获取预先设置的单通道下的相机参数,对样本进行采集得到样本的多光谱图像,并将其自动保存;
若T≠P1,则停止采集,关闭相机并释放相机资源。
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