[发明专利]一种基于高光谱图像的在体组织光学参数测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201911126086.1 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN110946553B 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 李晨曦;马雪洁;刘蓉;陈文亮 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00;G06F30/20
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 李林娟
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 光谱 图像 组织 光学 参数 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种基于高光谱图像的在体组织光学参数测量方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

通过在体组织光学参数测量装置获取样品的8通道图像;

输入窄带滤光通道反射值和测量的漫反射光谱值,使用维纳矩阵重构得到光谱图;

结合Monte Carlo查表法与正向模型进行建模和数据拟合,得到样品的模拟反射光谱;

采用最优化反构算法得到组织光学参数及仿体浓度;

其中,所述使用维纳矩阵重构得到光谱图具体为:

获得系统矩阵和修正的维纳矩阵,重构出新的窄带反射值;利用修正后的维纳矩阵和系统矩阵与新的反射值相结合,得到漫反射光谱;

选择与实际测量的漫反射光谱相比,均方根误差值最小的光谱,作为最终重构的光谱;

其中,所述结合Monte Carlo查表法与正向模型进行建模和数据拟合,得到样品的模拟反射光谱具体为:

利用查找表算法实现正向模型的建立,确定不同波长下的组织吸收系数和散射系数,将其输入单层组织的查找表模型中,插值得到一系列的反射值,实现基于正向模型的反射光谱获取;

其中,所述采用最优化反构算法得到的组织光学参数及仿体浓度,具体为:

利用MATLAB中的fmincon函数求解多维无约束的非线性优化问题,给定系数初值矩阵,计算得到不同波长下仿体的光学参数,将其输入正向模型获取漫反射率;

引入校正系数,使目标函数最小,求解得到样品的浓度、吸收系数及约化散射系数;

其中,所述在体组织光学参数测量装置包括:卤素灯、聚焦镜、滤光轮组、相机以及光谱仪,

卤素灯作为光源,具有连续宽光谱特性,适用于可见光谱中的样本测量;滤光轮组作为分光装置包括不同中心波长的滤光片;相机搭配聚焦镜实现高分辨率成像;

捕捉仿体的二维图像信息和漫反射光谱,通过采集离散波长的图像,利用基于维纳拟合原理的光谱重构,缩短对组织成像的采集时间,实现不同波段多光谱图像的获取;

相机连接成功后,获取当前的通道位置P,设置目标通道位置为T=P+1;

若T<9,转动相机的内置滤光轮至目标位置T,判断当前位置P1是否与目标位置T相等;

若T=P1,获取预先设置的单通道下的相机参数,对样本进行采集得到样本的多光谱图像,并将其自动保存;

若T≠P1,则停止采集,关闭相机并释放相机资源。

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