[发明专利]CMOS图像传感器串行图像数据训练的实时校正系统有效

专利信息
申请号: 201911126560.0 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN110753221B 公开(公告)日: 2021-04-27
发明(设计)人: 余达;刘金国;宁永慧;石俊霞;姜肖楠;马庆军;马丽娟 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N5/374;H04N5/3745
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 朱红玲
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: cmos 图像传感器 串行 图像 数据 训练 实时 校正 系统
【权利要求书】:

1.CMOS图像传感器的串行图像数据训练的实时校正系统,包括CMOS图像传感器、驱动器、电平转换器和单片控制器;所述单片控制器内包含时序控制模块、数据调理模块、训练模块、可变的延迟器iodelay、可控的串并转换器iserdes和输出位置可控制的移位寄存器;其特征是:

所述单片控制器内时序控制模块输出用于电荷转换的驱动时序信号和控制时序信号,所述电荷转换的驱动时序信号和控制时序信号分别经驱动器和电平转换器后,送入CMOS图像传感器;所述CMOS图像传感器输出串行CMOS图像数据,经训练模块控制的iodelay、iserdes和输出位置可控制的移位寄存器,转换为输出有效数据位置确定的稳定的并行数据,所述并行数据再经数据调理模块后输出满足应用要求的图像数据;

所述串行CMOS图像数据通道的稳定性检测采用逐个通道顺序进行的方式,在每行的冗余消隐期间进行检测;

每行CMOS图像数据的驱动时序设置为:电荷转移操作在整个行周期内持续进行;在有效的读出时序操作阶段,train信号设置为低电平;在每行的冗余时序操作阶段,train信号设置为高电平,进行iodelay的延迟,进行采样到的并行数据的稳定性检测;若检测到数据稳定或数据的跳变位置未发生变化,则不进行原iodelay位置的改变;若检测到数据不稳定或者数据的跳变位置未发生变化,则进行iodelay位置的增加或者减少;

所述单片控制器根据消隐期的长度,设置为全tap检测、根据采样眼中心位置的检测以及根据跳变沿位置的检测;

全tap检测的具体过程为:当接收到检测命令后,首先从不进行任何操作的空闲阶段subchannle_IDLE_state跳转到当前通道IODELAY1的检测前复位阶段subchannle_RESET_1_state,进行当前通道IODELAY1的复位,然后跳转到数据稳定性检测阶段subchannle_EYE_SAMPLE_state,连续r次采样检测采集到的数据是否稳定,并最终给出是否稳定的结果,然后进入采样眼位置判断阶段subchannle_EYE_CHECK_state,进行tap位置计数初始化并递增,在检测到不稳定区域后进行tap方向的判断,进行检测跳变沿状态的判断,进行稳定采样眼宽度的判断;当检测遍历了所有的tap或者已经检测到长度大于tap稳定采样区域的长度,且已经检测到跳变沿,则跳转到采样眼位置计算阶段subchannle_EYE_CALC_state,计算采样眼的中间位置,否则跳转到延迟阶段subchannle_EYE_DELAY_state,iodelay进行一个tap位置的延迟;延迟阶段subchannle_EYE_DELAY_state跳转到采样眼位置判断阶段subchannle_EYE_CHECK_state,从采样眼位置计算阶段subchannle_EYE_CALC_state跳转到检测后复位阶段Subchannle_RESET_2_state,进行当前通道iodelay的复位,延迟复位到默认值;跳转到最终采样眼位置设置阶段subchannle_EYE_CENTER_state,iodelay延迟值设置为最佳采样眼的中间位置;最终跳转回空闲阶段subchannle_IDLE_state。

2.根据权利要求1所述的CMOS图像传感器的串行图像数据训练的实时校正系统,其特征在于:每行的冗余消隐期仅针对一个或者多个通道进行检测;循环的行数=单片FPGA所连接的CMOS串行图像数据总通道数/p,p为大于0的整数。

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