[发明专利]通过EBSD技术和维氏硬度计来计算孪晶临界分切应力的方法

权利要求书

1.通过EBSD技术和维氏硬度计来计算孪晶的临界分切应力的方法，其特征在于：首先利用维氏硬度计形成孪晶，记录此时压痕的对角线长度和维氏硬度值；再通过EBSD技术测定该压痕所在晶体的取向，并根据压痕的几何关系获得导致孪晶形成的分力方向，结合EBSD标定的晶体结构，计算出该分力下孪晶的Schmid因子数值；最后结合Schmid因子数值，获得孪晶的临界分切应力的大小。

2.按照权利要求1所述通过EBSD技术和维氏硬度计来计算孪晶的临界分切应力的方法，其特征在于：先制备EBSD样品，在金相显微镜和EBSD测定样品某一区域，并且用维氏硬度标记位置；然后通过不同载荷的维氏硬度对该区域进行硬度测试，直至某一载荷下，硬度压痕旁边出现孪晶，记录硬度压痕的对角线大小以及硬度数值。

3.按照权利要求2所述通过EBSD技术和维氏硬度计来计算孪晶的临界分切应力的方法，其特征在于，具体步骤如下：

1）、制备EBSD块状样品，通过化学擦拭腐蚀或者机械振动抛光保证样品表面的平整度；

2）、用维氏硬度标记样品表面某一位置，通过金相显微镜、扫描电子显微镜和EBSD记录该区域的原始形貌和晶体取向；

3）、通过维氏硬度计对该区域进行硬度测定，更换不同大小的载荷，直至某一载荷下压痕旁边出现孪晶，记录压痕的对角线大小以及硬度值；

4）、通过EBSD测定该压痕所在晶体的取向，并根据压痕的几何关系获得导致孪晶形成的分力方向，结合EBSD标定的晶体结构，计算出该分力下孪晶的Schmid因子数值；

5）、根据压痕的几何关系获得导致孪晶形成的应力大小，结合Schmid因子计算结果，最终获得孪晶的临界分切应力。

4.按照权利要求1所述通过EBSD技术和维氏硬度计来计算孪晶的临界分切应力的方法，其特征在于，步骤1）中，采用以下任一方法对样品表面进行处理：

方法一：

预磨与抛光：采用150#、320#、800#、2000#的水砂纸依次预磨，去除较深的划痕后，在洋绒布上进行机械抛光，抛光液为SiO₂的纳米悬浊液，抛光6-10分钟，最后得到镜面效果的光亮无痕的抛光面；

蚀刻：用沾有酸的棉花轻轻快速擦拭样品表面3-10秒，直至样品表面变亮，依次使用清水和无水乙醇冲洗样品，最后干燥保存；

方法二：

先把样品在镶样机上镶样，然后用150#、320#、800#、2000#的水砂纸依次预磨，去除较深的划痕后，最后在自动抛磨机上进行振动抛光，抛光液为SiO₂的纳米悬浊液，抛光0.5-1小时，得到镜面效果的光亮无痕的抛光面。

5.按照权利要求1所述通过EBSD技术和维氏硬度计来计算孪晶的临界分切应力的方法，其特征在于：步骤3）中，从10-1000g更换不同大小的载荷，直至某一载荷下压痕旁边出现孪晶。