[发明专利]筛孔偏差核查装置和核查方法

说明书

本发明涉及试验筛的技术领域，公开了筛孔偏差核查装置和核查方法，其中筛孔偏差核查装置包括：立柱，竖直安装于底座上；可调节支架，包括上支架和下支架，所述上支架和所述下支架均活动安装于所述立柱，均能够相对所述立柱进行前后、左右、上下调节，所述试验筛安装于所述下支架；尺寸偏差标准板，包括位于所述下支架下方的底板，所述底板上绘有回字形图案；光源，安装于所述上支架。本发明中的筛孔偏差核查装置和核查方法，能够确保被核查的金属穿孔板试验筛上的任意一个孔都能够垂直对准光源，投影至由筛孔正负偏差绘制的回字形图案，能够快速比对判断出筛孔尺寸偏差的符合性，避免放大后读取数的繁琐操作。

技术领域

本发明涉及试验筛的技术领域，尤其涉及筛孔偏差核查装置和核查方法。

背景技术

金属穿孔板试验筛主要应用于物质颗粒的粒度分级、粒度检测等，广泛应用在食品、医药、化工、磨料、颜料、矿山、冶金、地质、陶瓷、国防等行业的科研单位、实验室、检验室中，进行生产控制的检验及分析。试验筛需经指定的机构检验、鉴定、认为符合约定的试验筛，才能保证其测试结果的准确性。目前现行的方法均是采用50-200倍的大型光学放大镜或显微镜装置进行测量。

在试验筛校准时，将试验筛放在万能工具显微镜的玻璃工作台面上,任取一个试样部位,用万能工具显微镜纵向直接测量，主利用氦氖激光束通过待测网筛所产生的夫朗和费衍射测定网丝筛孔尺寸,并对误差进行分析。具体为，将半径为R的激光束垂直射在网筛平面上,在足够远处放置一个与网筛平面相平行的白屏，再用激光束通过网筛，所产生的夫朗和费衍射图纹将清晰地投射在白屏上，读取X、Y尺寸进行测量。针对筛孔尺寸5mm以下的规格，现行方法采用分辨力1μm以下，放大倍数10-50倍左右的显微镜等设备，虽然具有较高的精确度，可以定量表征筛孔的尺寸，但同时具有成本高昂、难以大规模推广、操作繁琐等缺点，方式工作量繁重、效率低，给各地计量部门带来了很大困难。

发明内容

本发明的目的在于提供筛孔偏差核查装置和核查方法，旨在解决现有技术中采用人工观测进行试验检查，工作繁重、效率低的问题。

本发明提供筛孔偏差核查装置，用于检测试验筛，包括：立柱，竖直安装于底座上；可调节支架，包括上支架和下支架，所述上支架和所述下支架均活动安装于所述立柱，均能够相对所述立柱进行前后、左右、上下调节，所述试验筛安装于所述下支架；尺寸偏差标准板，包括位于所述下支架下方的底板，所述底板上绘有回字形图案；光源，安装于所述上支架，用于投射光线穿过所述试验筛并投影至所述底板上。

进一步地，沿所述立柱设有用于标示所述上支架、所述下支架高度值的刻度。

进一步地，所述上支架、所述下支架滑动安装于所述立柱。

进一步地，所述底板端面为浅色，所述回字形图案为深色。

进一步地，所述回字形图案包括多个同心圆或同心正方形。

进一步地，还包括两个双向锁扣，所述上支架通过一所述双向锁扣安装于所述立柱，所述下支架通过另一所述双向锁扣安装至所述立柱，各所述双向锁扣滑动安装于所述立柱且能够锁紧其位置。

进一步地，所述光源为点状投射光源。

本发明还提供了核查方法，用于检测试验筛，包括以下步骤：组装上述述的筛孔偏差核查装置；根据待测所述试验筛的筛网大小，调整所述上支架伸长到足够长度，以使投影光线能够垂直照射到任意筛孔，然后固定所述上支架；将待测所述试验筛固定在所述下支架的安装位并确保水平，选择任意筛孔对准投影光源，然后固定所述下支架的伸长距离，调整所述下支架的纵向位置，以使待检测所述筛孔在所述底板上的投影清晰。获取所述光源高度、所述试验筛高度，制作所述回字形图案；将所述尺寸偏差标准板放在投影的正中进行比对，如果投影能够完全落在所述回字形图案内，则可判断所述筛孔的尺寸偏差符合要求；如果投影不能完全落在所述回字形图案内，则可判断所述筛孔的尺寸偏差不符合要求。