[发明专利]一种机构锁控制部件的测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 201911127455.9 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN110955224B 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 李嗣研;王昊;马良;王建忠 申请(专利权)人: 北京机械设备研究所
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 李明里
地址: 100854 北京市海淀区永*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 机构 控制 部件 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种机构锁控制部件的测试装置,其特征在于,所述装置包括机构锁模拟电路、测试结果采集模块、测试结果分析模块;其中,

所述机构锁控制部件发出控制指令,通过控制所述机构锁模拟电路端口的供电,控制机构锁模拟电路模拟所述机构锁的不同工作状态;

所述测试结果采集模块,用于在所述机构锁控制部件发出控制指令后,采集所述机构锁模拟电路端口的反馈值;

测试结果分析模块,用于接收所述测试结果采集模块采集的反馈值,若所述反馈值与预存的真值表中的状态值一致,则测试通过;

其中,所述机构锁模拟电路,利用二极管与继电器的线圈模拟机构锁动作电机的正、反转;利用继电器的触点模拟所述机构锁中锁定到位行程开关、解锁到位行程开关的动作。

2.根据权利要求1所述的机构锁控制部件的测试装置,其特征在于,所述机构锁模拟电路与驱动端口相连,所述机构锁控制部件通过控制驱动端口的供电,实现对于所述机构锁模拟电路端口的供电控制。

3.根据权利要求2所述的机构锁控制部件的测试装置,其特征在于,在采集的反馈值的端口与驱动端口之间串联电阻和发光二极管;所述测试结果采集模块通过采集发光二极管的发光状态,并将其转化为机构锁模拟电路端口的反馈值;其中,所述发光二极管不发光表示反馈值为低电平,所述发光二极管发光表示反馈值为高电平。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的机构锁控制部件的测试装置,其特征在于,所述机构锁模拟电路包括二极管D1-D4、继电器J1-J2,用于模拟机构锁动作电机的正、反转;其中,

二极管D1的正极、二极管D2的负极用于模拟所述动作电机的正转电源正端口、反转电源负端口,二极管D3的负极、二极管D4的正极分别用于模拟所述动作电机的正转电源负端口、反转电源正端口;

二极管D1的负极与继电器J1的线圈的正极相连,继电器J1的线圈的负极与二极管D3的正极相连,用于模拟机构锁动作电机的正转;

二极管D2的正极与继电器J2的线圈的负极相连,继电器J2的线圈的正极与二极管D4的负极相连,用于模拟机构锁动作电机的反转。

5.根据权利要求4所述的机构锁控制部件的测试装置,其特征在于,

利用继电器J1的第一活动触点、第一常闭触点分别模拟所述锁定到位行程开关的活动触点端口、常开触点端口;

利用继电器J2的第一活动触点、第一常闭触点分别模拟所述解锁到位行程开关的活动触点端口、常开触点端口。

6.根据权利要求5所述的机构锁控制部件的测试装置,其特征在于,当所述机构锁模拟电路用于模拟相邻布置的两个机构锁时,所述机构锁模拟电路还包括二极管D5-D8,所述继电器J1、J2还包括第二活动触点、第二常闭触点、第二常开触点;

利用二极管D5-D8、继电器J1-J2的线圈模拟第二个机构锁动作电机的正反转;

利用继电器J1的第二活动触点、第二常闭触点分别模拟第二个机构锁中所述锁定到位行程开关的活动触点端口、常开触点端口;

利用继电器J2的第二活动触点、第二常闭触点分别模拟第二个机构锁中所述解锁到位行程开关的活动触点端口、常开触点端口。

7.根据权利要求6所述的机构锁控制部件的测试装置,其特征在于,将机构锁模拟电路中继电器J1的第一常闭触点、继电器J2的第一常闭触点的状态作为所述机构锁模拟电路的反馈值。

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