[发明专利]用于脑活动解析的系统与方法有效

专利信息
申请号: 201911127928.5 申请日: 2016-02-16
公开(公告)号: CN110840455B 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 内森·英特拉托 申请(专利权)人: 内森·英特拉托
主分类号: A61B5/374 分类号: A61B5/374;A61B5/00;A61B5/369;A61B5/291;G16H50/20
代理公司: 北京市联德律师事务所 11361 代理人: 黄大正;王迪
地址: 以色列*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 活动 解析 系统 方法
【说明书】:

本发明提供了一种计算机实施的方法,包括:获得表示特定个体的脑活动的电信号数据;基于与特定脑状态相关联的预定预测因子处理电信号数据,预测因子选自包含多个预定预测因子的预测因子库,其中与特定脑状态相关联的预定预测因子包括:由预定的母小波产生的预定的代表性小波包原子集,小波包原子的预定排序以及预定的归一化因子集,其中该处理包括:利用预定的代表性小波包原子集将电信号数据解构成多个预定的解构小波包原子,其中电信号数据的时间窗口投射到预定的代表性小波包原子集上,其中每个预定的代表性小波包原子对应于特定的预定脑活动特征。

分案信息

本申请是申请日为2016年2月16日、申请号为201680022201.9、发明名称为“用于脑活动解析的系统与方法”的中国发明专利申请的分案申请。

相关申请的交叉引用

本申请要求2015年2月16日提交的美国临时专利申请序列号No.62/116,647的优先权,其全部内容以引用方式并入本文。

技术领域

本发明的领域涉及一种用于监测受试者的大脑状态、健康和健壮程度的方法和系统。

背景技术

脑电图(EEG)是一种监测脑电活动的方法。它通常是非侵入性的,其中电极沿着头皮放置,然而,在特定应用中可以使用侵入性电极。EEG测量由大脑神经元内的离子电流引起的电压波动。然而,EEG电极的灵敏度将检测限制在靠近每个电极的脑的小区域,从而限制EEG的空间分辨率。

功能磁共振成像(fMRI)是另一种监测脑活动的方法。然而,磁共振成像仪是一种庞大且昂贵的临床装置,其既不能在诊所外使用,也不能以连续的方式使用。

附图说明

本文仅通过示例的方式参照附图来描述本发明的一些实施例。现在详细地具体参考附图,应该强调的是,所示的细节是作为示例并且为了说明性地讨论本发明的实施例的目的。在这方面,使用附图进行的描述使得熟悉本领域的技术人员显而易知可以如何实施本发明的实施例。

图1示出了根据本发明的一些实施例的记录电极的屏幕截图。

图2示出了根据本发明的一些实施例的受试者的脑活动特征的记录表示的示例的屏幕截图。

图3A和图3B示出了根据本发明的一些实施例的受试者的脑活动特征的记录表示的示例的屏幕截图。

图4示出了根据本发明的一些实施例的受试者的脑活动特征(BAF)表示的示例的屏幕截图。

图5示出了根据本发明的一些实施例的受试者的BAF表示的示例的屏幕截图。

图6示出了根据本发明的一些实施例的受试者的BAF表示的示例的屏幕截图。

图7示出了根据本发明的一些实施例的受试者的BAF表示的示例的屏幕截图。

图8示出了根据本发明的一些实施例的受试者的BAF表示的示例的屏幕截图。

图9示出了根据本发明的一些实施例的受试者的BAF表示的示例的屏幕截图。

图10示出了根据本发明的一些实施例的受试者的BAF表示的示例的屏幕截图。

图11示出了根据本发明的一些实施例的受试者的脑活动特征的记录表示的示例的屏幕截图。

图12示出了根据本发明的一些实施例的受试者的脑活动特征的多个记录表示的示例的屏幕截图。

图13示出了根据本发明的一些实施例的受试者的BAF表示的示例的屏幕截图。

图14示出了根据本发明的一些实施例专门编程的计算机体系结构的示例的屏幕截图。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于内森·英特拉托,未经内森·英特拉托许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911127928.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top