[发明专利]一种石墨烯导热薄膜的测试方法

说明书

本发明提供一种石墨烯导热薄膜的测试方法，包括以下步骤：待测样品的取样、测试环境的营造、待测样品的放置、加热块的放置、测温件的放置、温度数据的采集、多组数据的获取、温度数据的分析。可以准确的测试出石墨烯膜的导热性能，并能区分出不同厚度的石墨烯膜的性能差异，操作简单、耗时少，测试效率高，适合大批量的监测测试。

技术领域

本发明涉及材料导热性能测试方法技术领域，具体涉及一种石墨烯导热薄膜的测试方法。

背景技术

随着科学技术的高速发展，各种电子设备日趋微型化、高性能化，在运行过程中不可避免的会产生和累积大量的热量，如果热量不及时导出，则会影响设备的正常运行和系统的稳定性。为满足散热设备的需求，采用石墨烯薄膜对设备内部的热量进行导出散热，石墨烯薄膜质量轻、机械强度高，热导率高。

但在应用石墨烯薄膜时，需要先对其导热性能进行测试，确保其能有效导热。目前常用的测试方法是采用精密的测试仪器对石墨烯薄膜进行测试，这种测试方法过程繁琐，耗时较长，测试效率低，不适合大批量的测试。

发明内容

本发明的目的在于提供一种石墨烯导热薄膜的测试方法来解决现有石墨烯薄膜导热性能测试方法存在的耗时长、效率低的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种石墨烯导热薄膜的测试方法，包括以下步骤：

1)待测样品的取样：

将待测石墨烯薄膜置于取样刀模中，切取固定尺寸的待测样品；

2)测试环境的营造：

将整个测试设备均放置在试验箱中，试验箱经过预加温≥30分钟，并且在测试过程中保证待测样品周围的温度在25℃±1℃；

3)待测样品的放置：

将切取的待测样品放置在绝缘绝热的平面上；

4)加热块的放置：

在待测样品表面选取一个加热点，记为A点，将加热块放置在A 点上，加热块的加热方式为电阻式加热，在加热块上施加一定的电压电流，得到一个稳定的温度，该加热温度不大于100℃；

5)测温件的放置：

在待测样品的表面选取两个测温点，记为B点和C点，B点和C 点位于A点的同侧，将两个相同的测温件分别放置在B点和C点进行测温；

6)温度数据的采集：

采用数据采集器与分别放置在B点和C点的两个测温件连接，记录两个测温件的数据；

7)多组数据的获取：

重复以上(5)-(6)的操作N次，并将所有数据记录存储起来；

8)温度数据的分析：

温度测试计算公式：温差值＝TH-(T1+T2+...)/N。N表示测试次数，其中TH是A点数据，T1、T2是B、C点测试数据，同时N次的数据，得出一个平均值，计算TH和平均值的差异，以此来判定所测试材料的性能。

作为本发明的一种改进，在步骤5)中，所述测温件为热电偶，将热电偶测温的一端紧贴在待测样品的表面，检测其温度并将数据传输至数据采集器。

作为本发明的一种改进，在步骤5)中，所述热电偶的感温线采用OMEGA 5TC-TT-K-40-72，长度＜1m。

作为本发明的一种改进，在步骤1)中，切取的待测样品为20cm ×5cm的长方体形状。

作为本发明的一种改进，在步骤2)中，所述试验箱是由亚克力材料制成。