[发明专利]一种基于专用接口芯片的开短路检测电路

说明书

本发明公开的属于电路测试技术领域，具体为一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，包括主控模块、专用接口芯片、电压采样部分和被测电路；其中所述主控模块用于控制所述专用接口芯片，对通道电源的电压采样信号进行模数转换以及通过转换后的数值判断被测电路引脚开短路状态；所述专用接口芯片用于输出测试电压；所述电压采样部分负责采样测试电压。本发明采用专用接口电路，该芯片有数十路输出通道，每一输出通道都是独立可控三态输出，从而无需数量众多的模拟开关芯片，大大减少了复杂性，降低了成本，采用单电源供电，在复杂度、可靠性、经济性均优于现有技术方案。

技术领域

本发明涉及电路测试技术领域，具体为一种基于专用接口芯片的开短路检测电路。

背景技术

信息技术在当今社会飞速发展，而集成电路产业作为信息技术的基础产业也取得迅猛增长。据中国半导体行业协会统计，2018年中国集成电路产业销售额为6532亿元，同比增长20.7％。

随着集成电路产业快速发展，对集成电路质量的要求也越来越高。集成电路引脚开短路测试是电路测试的基本项目，在电路圆片测试、成品测试、失效分析中均有涉及。为了提高集成电路抗静电能力，在电路设计时通常在每个引脚上加入对地、对电源的保护二极管，开短路测试即通过测试被测引脚的保护二极管导通电压，从而判断引脚是否开路或者短路，现有开短路测试方案被测电路的地端和检测电路的地端相连，通过模拟开关芯片在引脚上切换输入正电压或负电压来测试保护二极管的导通，现有开短路测试技术通常需要正负两路电源，且对模拟开关数量需求多，设备复杂，成本高。为此，我们提出一种基于专用接口芯片的开短路检测电路。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，以解决上述背景技术中提出的现有开短路测试技术通常需要正负两路电源，且对模拟开关数量需求多，设备复杂，成本高的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，包括主控模块、专用接口芯片、电压采样部分和被测电路，其中：

所述主控模块用于控制所述专用接口芯片，对通道电源的电压采样信号进行模数转换以及通过转换后的数值判断被测电路引脚开短路状态；所述专用接口芯片用于输出测试电压；所述电压采样部分负责采样测试电压。

所述专用接口芯片的CH1通道与所述被测电路的Pin1引脚相连，CH2通道与所述被测电路的Pin2引脚相连，CH3通道与所述被测电路的Pin3引脚相连，CH4通道与所述被测电路的Pin4引脚相连，所述被测电路的其余引脚分别与所述专用接口芯片的其他通道相连。

优选的，所述专用接口芯片的每一输出通道都是独立可控，可输出三态；输出高电平时，通道电源通过低导通电阻MOS管输出到通道；输出低电平时，输出通道通过低导通电阻MOS管连接到GND。

优选的，所述专用接口芯片的通道电源端通过限流电阻连接至检测电压电源端。

优选的，所述电压采样部分对所述专用接口芯片的通道电源端进行分压采样。

优选的，所述的主控模块采集所述电压采样部分的采样电压；所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片。

优选的，所述主控模块包含检测开短路状态的控制程序。

优选的，所述检测开短路状态的控制程序包含：

所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片在与所述被测电路引脚相连的输出通道输出特定状态的程序；

所述主控模块采集所述专用接口芯片通道电源端电压，将其转换为数字信号并判断所述被测电路引脚开短路状态的程序。

优选的，所述被测电路引脚与所述专用接口芯片输出通道相连。