[发明专利]对信号劣化的若干贡献者进行自动测量的测量系统和方法

权利要求书

1.一种用于对信号劣化的若干贡献者进行自动测量的测量系统，所述测量系统包括：

被测设备；

信号分析器；以及

控制器；

其中，所述控制器包括用于所述被测设备和/或所述信号分析器的至少一个命令序列；以及

其中，所述至少一个命令序列中的每个命令序列都包括相应的命令以针对信号劣化的特定原因进行补偿。

2.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述测量系统还包括信号发生器；

其中，所述控制器包括用于所述被测设备和/或所述信号分析器和/或所述信号发生器的至少一个命令序列。

3.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为通过运行针对不同补偿组合的若干命令序列以获得补偿的测量来消除来自所述被测设备的信号劣化的特定原因。

4.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为提供显示信号劣化的相应的不同原因的贡献者的报告。

5.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述信号分析器包括所述控制器。

6.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述测量系统还包括个人计算机，

其中，所述个人计算机包括所述控制器。

7.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述若干贡献者中的至少两个贡献者彼此依赖。

8.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为执行所述若干贡献者中的至少一部分贡献者的各个排列。

9.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，优选地关于所述信号分析器，所述若干贡献者包括启用的均衡器、禁用的均衡器、启用的预失真、禁用的预失真、启用的数字预失真、禁用的数字预失真中的至少一者或其任意组合。

10.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为特别是通过执行所述若干贡献者中的至少一部分贡献者的各个排列来获得具有补偿的非线性的不同频率响应贡献者。

11.根据权利要求10所述的测量系统，

其中，所述具有补偿的非线性的不同频率响应贡献者受到不期望的线性效应的不同影响。

12.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为通过在所述信号分析器上创建若干测量和I/Q求平均的命令序列来分析噪声贡献者。

13.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为利用将理想信号与相应的测量信号进行比较的命令序列来补偿不期望的线性效应。

14.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为通过创建相应的均衡值来补偿不期望的线性效应。

15.根据权利要求1所述的测量系统，

其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为利用包括预失真、特别是数字预失真的命令序列来补偿不期望的线性效应。